[发明专利]一种装备系统测试性评价计算方法

权利要求书

1.一种装备系统测试性评价计算方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤A，对装备系统进行工作原理和特性分析，总结装备系统使用需求和测试性需求，确定诊断方案和测试性要求，以此建立测试性设计准则；

步骤B，根据测试性设计准则相对测试性要求的影响程度采用综合加权法构建综合加权影响集合；

步骤C，使用自顶向下的方法分析装备系统各子对象符合测试性设计准则的情况，结合综合加权影响集合，得到测试性值，从而实现对装备系统测试性设计的检查与评价。

2.根据权利要求1所述的装备系统测试性评价计算方法，其特征在于，步骤B包括如下步骤：

步骤B1)确定各条测试性设计准则的系数C，C＝{C_L,C_X,C_Z,C_T,C_Y}；

其中：C_L表示测试性定量要求影响系数，C_X表示测试性定性要求影响系数，C_Z表示诊断方案影响系数，C_T表示装备系统测试性其他要求影响系数，C_Y表示不属于测试性设计要求但有益于装备系统测试的影响系数；

步骤B2)确定各条测试性设计准则对应系数加权数W，W＝{W_L,W_X,W_Z,W_T,W_Y}；

其中，W_L,W_X,W_Z,W_T,W_Y分别表示C_L,C_X,C_Z,C_T,C_Y的加权数；

步骤B3)计算第i条测试性设计准则对应的综合加权系数K_i，1≤i≤n，n为总共的测试性设计准则条数；

K_i＝C_LiW_Li+C_XiW_Xi+C_ZiW_Zi+C_TiW_Ti+C_YiW_Yi   式(1)

其中，C_Li表示第i条测试性准则的测试性定量要求影响系数，C_Xi表示第i条测试性准则的测试性定性要求影响系数，C_Zi表示第i条测试性准则的诊断方案影响系数，C_Ti表示第i条测试性准则的装备系统测试性其他要求影响系数，C_Yi表示第i条测试性准则的不属于测试性设计要求但有益于装备系统测试的影响系数；

W_Li,W_Xi,W_Zi,W_Ti,W_Yi分别表示C_Li,C_Xi,C_Zi,C_Ti,C_Yi的加权数。