[发明专利]零件高度尺寸测量方法及测量工装有效

专利信息
申请号: 201410552059.1 申请日: 2014-10-17
公开(公告)号: CN104330009B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 耿全堂 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司41119 代理人: 胡伟华
地址: 471009 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 零件 高度 尺寸 测量方法 测量 工装
【权利要求书】:

1.零件高度尺寸测量方法,其特征在于:包括如下步骤:

(1)将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上,记录测量千分表的刻度值A,标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐,标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸,将测量千分表顶压在标准检块的上基准面之前,选用调平千分表将标准检块的下基准面与待测零件的下基准面进行调平,调平时先将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上,记录调平千分表的刻度值C,将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上,调整标准检块的高度使得调平千分表显示刻度值C即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐,所述的标准检块沿上下方向高度可调的设置在检块调整架上,所述的测量千分表沿上下方向高度可调的安装在千分表安装架上;

(2)将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上,读出测量千分表的刻度值B;

(3)将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和,即可得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。

2.根据权利要求1所述的零件高度尺寸测量方法,其特征在于:上述步骤一中,在将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上时,将测量千分表调零,所述测量千分表的刻度值A为0。

3.根据权利要求1所述的零件高度尺寸测量方法,其特征在于:所述的调平千分表和测量千分表为同一个杠杆千分表,该杠杆千分表安装在可沿上下方向调整杠杆千分表位置的千分表升降台上。

4.根据权利要求1所述的零件高度尺寸测量方法,其特征在于:在将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上时,将调平千分表调零,调平千分表的刻度值C为0,在将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上时,调整标准检块的高度使得调平千分表归零即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐。

5.零件高度尺寸测量工装,其特征在于:包括标准检块,标准检块的上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸,测量工装还包括用于在标准检块的下基准面与待测零件高度尺寸的下基准面平齐时在上基准面检测位对标准检块上基准面进行检测定位、在上基准面测量位对待测零件上基准面进行测量的测量千分表,测量千分表设置在可驱动测量千分表从上基准面检测位平移至上基准面测量位的千分表安装架上,测量千分表具有用于在测量千分表位于上基准面检测位时顶压在标准检块上基准面上、在测量千分表位于上基准面测量位时顶压在待测零件上基准面上的测量触头,所述的标准检块沿上下方向高度可调的设置在检块调整架上,所述的测量千分表沿上下方向高度可调的安装在所述千分表安装架上,所述测量千分表为用于在下基准面检测位对待测零件下基准面进行检测定位、在下基准面调平位对标准检块下基准面进行测量调平的调平千分表,所述千分表安装架可驱动调平千分表从所述下基准面检测位平移至下基准面调平位。

6.根据权利要求5所述的零件高度尺寸测量工装,其特征在于:所述的千分表安装架和检块调整架均为数显高度尺。

7.根据权利要求5至6中任一项所述的零件高度尺寸测量工装,其特征在于:所述的测量千分表为杠杆千分表。

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