[发明专利]用于在轧钢机中加工轧件的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201410552845.1 申请日: 2014-10-17
公开(公告)号: CN104561518A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 约翰内斯·达格内;汉斯-乌尔里希·勒夫勒 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: C21D11/00 分类号: C21D11/00;B21B37/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;李慧
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 轧钢机 加工 轧件 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种用于在轧钢机(2)中加工轧件(6)的方法,其中在加工期间用X光射线(X)辐照所述轧件(6),所述轧钢机具有至少一个X光检测器(10),借助所述X光检测器测量从所述轧件(6)沿至少一个预定方向(R)衍射的X光射线(X′)的强度(I),其中所述至少一个X光检测器(10)布置在预期出现反射的位置中,并且其中根据所述强度(I)测定所述轧件(6)的结构参数的至少一个实际值(SIst),其特征在于,所述轧件具有存在于所述轧件中的晶粒的静态取向的多晶结构,并且借助Bragg条件确定预期的所述反射相对于晶粒的所要研究的相的方位。

2.根据权利要求1所述的方法,其中预期出现反射的所述位置根据所述轧件(6)的组织模型来测定。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中将存在于所述轧件(6)中的相的分量测定为所述结构参数的实际值(SIst)。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中在至少两个不同的位置上分别测量从所述轧件(6)衍射的所述X光射线(X′)的所述强度(I),并且通过比较所测量的所述强度(I)将存在于所述轧件(6)中的所述相的至少一个分量确定作为所述结构参数的实际值(SIst)。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中通过将从所述轧件(6)沿所述至少一个预定方向(R)衍射的所述X光射线(X′)的所测量的强度分布与预期的强度分布进行比较来测定所述结构参数的所述实际值(SIst)。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中测量沿所述至少一个预定方向(R)衍射的X光射线(X′)的所述强度(I)的时间上的变化曲线,并且由此与所述轧件(6)中的位置(x)相关地测定所述结构参数的所述实际值(SIst)的变化。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中测量所述轧件(6)的温度,并且在测定所述结构参数的所述实际值(SIst)时考虑所测量的所述强度(I)与所述温度的相关性。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中在加工期间测定所述轧件(6)的方位,并且在加工所述轧件(6)期间将至少一个用于产生X光射线的X光源(8)和所述至少一个X光检测器(10)距所述轧件(6)的间距(d,d′)保持恒定。

9.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中将所述轧件(6)的所述结构参数的所述实际值(SIst)与所述结构参数的理论值(SSoll)进行比较,并且与所述结构参数的所述实际值(SIst)和所述理论值(SSoll)之间的差相关地来影响用于加工所述轧件(6)的至少一个过程参数。

10.根据权利要求9所述的方法,其中根据描绘轧制过程的模型中的一个来匹配所述至少一个过程参数。

11.根据权利要求9或10所述的方法,其中控制所述至少一个过程参数。

12.根据权利要求9至11中的任一项所述的方法,其中调节所述至少一个过程参数。

13.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中所述结构参数的所述实际值(SIst)用于匹配所述组织模型。

14.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中应用单色的X光射线(X)。

15.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其中应用白色的X光射线(X)并且执行所述强度(I)的能量分散地测量。

16.一种具有至少一个用于产生X光射线(X)的X光源(8)的设备,具有:至少一个X光检测器(10),用于测量从轧件(6)沿至少一个预定方向(R)衍射的X光射线(X′);和控制和评估单元(12),在所述控制和评估单元中实施用于执行根据前述权利要求中的任一项所述的方法的软件。

17.根据权利要求16所述的设备,其中所述X光源(8)是用于所述轧件(6)的厚度测量的、已经存在的X光源(8)。

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