[发明专利]一种光谱带宽测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 201410555278.5 申请日: 2014-10-20
公开(公告)号: CN104280120A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 杜国军;李永强;廖志波;郝言慧;王向东 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/12
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 安丽
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱 带宽 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种光谱带宽测量方法,其特征在于,包括,

S1,单色仪(11)输出波长为λ的单色光;

S2,成像光谱仪(13)的探测器上接受所述波长为λ的单色光的光斑,读取所述光斑上的第一像元上的光强;

S3,单色仪(12)改变输出波长,输出n个波长间隔为Δλ的单色光;读取所述光斑上第一像元和/或第二像元上的光强;通过所述第二像元和/或所述第一像元上的光强变化量,计算得出所述单色光的分布曲线上的n个强度取样点;其中,n为1以上的自然数;

S4,由n个强度取样点拟合出单色光光斑的强度分布,并得出成像光谱仪(13)的光谱带宽。

2.根据权利要求1所述的光谱带宽测量方法,其特征在于,所述S3包括:S31,单色仪(12)输出波长变化为λ+Δλ的单色光;

S32,成像光谱仪(13)的探测器上接受波长为λ+Δλ的单色光,读取所述第一像元和所述第二像元上的光强;

S33,通过所述第二像元上增加的光强,得出所述单色光的分布曲线上的第一强度取样点。

3.根据权利要求2所述的光谱带宽测量方法,其特征在于,所述S3包括:S34,单色仪(12)输出波长变化为λ+2×Δλ的单色光;

S35,成像光谱仪(13)的探测器上接受波长为λ+2×Δλ的单色光,读取所述第一像元和所述第二像元上的光强;

S36,通过所述第二像元上的光强减去所述第一强度取样点的光强,得出所述单色光的分布曲线上的第二强度取样点。

4.根据权利要求1所述的光谱带宽测量方法,其特征在于,所述S3包括:

S37,单色仪改变输出波长,输出n个波长间隔为Δλ的单色光;

S38,成像光谱仪(13)的探测器上接受波长为λ+nΔλ的单色光,读取所述第一像元和所述第二像元上的光强;

S39,通过计算所述第二像元上n次中每次增加的光强值,得出所述单色光的分布曲线上的n个强度取样点。

5.根据权利要求1所述的光谱带宽测量方法,其特征在于,包括,

所述光谱仪(13)的每个像元长度所代表的光谱宽度为Δλ0,则所述波长间隔Δλ满足:m×Δλ=Δλ0,其中,m为1以上的自然数。

6.根据权利要求1所述的光谱带宽测量方法,其特征在于,所述S3包括:S321,单色仪(12)输出波长变化为λ+Δλ的单色光;

S322,成像光谱仪(13)的探测器上接受所述波长为λ+Δλ的单色光,读取所述第一像元的光强;

S323,通过所述第一像元上减少的光强,得出所述单色光的分布曲线上的第一强度取样点。

7.根据权利要求6所述的光谱带宽测量方法,其特征在于,所述S3包括:S324,单色仪(12)输出波长变化为λ+2×Δλ的单色光;

S325,成像光谱仪(13)的探测器上接受所述波长为λ+2×Δλ的单色光,读取所述第一像元上的光强;

S326,通过所述第一像元上的减少的光强减去所述第一强度取样点的光强,得出所述单色光的分布曲线上的第二强度取样点。

8.根据权利要求1或4所述的光谱带宽测量方法,其特征在于,所述S3包括:

S327,单色仪改变输出波长,输出n个波长间隔为Δλ的单色光;

S328,成像光谱仪(13)的探测器上接受波长为λ+nΔλ的单色光,读取所述第一像元和所述第二像元上的光强;

S329,通过计算所述第一像元上n次中每次减少的光强值,得出所述单色光的分布曲线上的n个强度取样点。

9.一种光谱带宽测量装置,应用权利要求1至8中任意一项所述的光谱带宽测量方法,其特征在于,包括,

单色仪(11),用于输出波长为λ的单色光;

成像光谱仪(13),在探测器上接受所述波长为λ的单色光的光斑,并输出所述光斑上的第一像元上的光强;

数据采集系统(14),接受所述成像光谱仪(13)的数据;

其中,所述单色仪(11)多次改变输出波长,输出多个波长λ+nΔλ的单色光;所述成像光谱仪(13)的探测器的第一像元和第二像元上的光强输出给所述数据采集系统(14);所述数据采集系统(14)通过所述第二像元和/或所述第一像元上的光强变化量,计算得出所述单色光的分布曲线上的n个强度取样点;其中,n为1以上的自然数。

10.根据权利要求9所述的光谱带宽测量装置,其特征在于,还包括,积分球,用于匀化所述单色仪(11)发出的单色光。

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