[发明专利]一种CL系统的扫描装置及方法有效
申请号: | 201410555446.0 | 申请日: | 2014-10-17 |
公开(公告)号: | CN105510361B | 公开(公告)日: | 2019-01-15 |
发明(设计)人: | 邵雨濛;魏龙;魏存峰;王燕芳;阙介民;刘宝东;王雅霄;袁路路;周俊光;孟凡辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 王卫忠;姜燕 |
地址: | 100049 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 机械臂 承载架 支架 扫描装置 探测器 第二安装座 第一安装座 对齐 扫描时 枢接轴 载物台 摆动 枢接 样本 检测 | ||
1.一种CL系统的扫描装置,所述扫描装置包括:支架、机械臂、X射线源、探测器、承载架及载物台;其特征在于,
所述机械臂第一安装座和第二安装座,所述机械臂可转动地安装于所述支架,所述第一安装座和第二安装座分别位于所述机械臂枢接轴心的两侧;
所述X射线源安装于所述机械臂的第一安装座,所述探测器安装于所述机械臂的第二安装座,所述探测器与所述X射线源对齐;
所述承载架固定安装于所述支架上,所述载物台安装于所述承载架上,所述载物台上具有样本固定位置,所述承载架及所述载物台安装固定于所述机械臂的第一安装座和第二安装座之间;
相对于所述支架,所述机械臂能定位于多个角度上;且所述X射线源与所述探测器及承载架保持对齐,
所述承载架与所述载物台之间安装有一转动机构,所述转动机构驱动所述载物台绕所述承载架中心垂线转动;所述载物台具有水平位移机构,
所述转动机构包括环形转座、动力装置和导轨,所述动力装置和导轨位于所述环形转座与所述承载架之间,所述导轨导引所述环形转座相对所述承载架进行同轴转动,所述动力装置驱动所述环形转座转动,所述水平位移机构安装于所述环形转座之上,
承载架包括水平安装面、位于中水平安装面中部的环形台和两端向上延伸的固定臂,环形台为空心结构,固定臂顶部具有与支架连接的连接轴,连接轴与机械臂的枢转轴轴心线重合,连接轴与机械臂的枢接轴为套筒轴结构。
2.如权利要求1所述的扫描装置,其特征在于,所述承载架上具有对齐水平面的安装面,所述载物台安装于所述安装面,所述载物台上的样本固定位置也对齐水平面。
3.如权利要求1所述的扫描装置,其特征在于,所述机械臂与所述支架之间安装有角度驱动装置,所述角度驱动装置安装于所述机械臂或支架,所述角度驱动装置驱动所述机械臂调整角度。
4.如权利要求1所述的扫描装置,其特征在于,所述水平位移机构包括X位移板和Y位移板,所述X位移板和Y位移板叠置连接,其中位于底侧的位移板与所述转动机构连接,其中位于上侧的位移板顶面为所述样本固定位置;所述X位移板或Y位移板均包括:连接板、动力装置及导轨,所述动力装置及导轨位于所述连接板与下部部件之间,所述动力装置驱动所述连接板沿所述导轨相对于下部部件进行X或Y方向位移。
5.如权利要求1所述的扫描装置,其特征在于,所述机械臂的转动轴轴心线穿过所述样本固定位置。
6.如权利要求1所述的扫描装置,其特征在于,所述机械臂结构为矩形中空结构臂或放倒的U形结构臂结构,所述第一安装座和第二安装座均设有滑轨,所述探测器和所述X射线源分别通过所述滑轨可滑动地安装于所述第一安装座和第二安装座。
7.如权利要求1至6任一项所述的扫描装置,其特征在于,所述支架内部形成一操作空间,所述承载架位于所述操作空间,所述机械臂至少一端在所述操作空间内调整;所述支架在所述操作空间两侧设置有第一支点及第二支点;所述承载架两端分别定位于所述第一支点、第二支点;所述机械臂的枢转轴与所述第一支点及第二支点其中至少一个支点重合。
8.一种如权利要求1至7任一项所述扫描装置的扫描方法,其包括步骤:
在所述载物台上放置样本;
调节所述机械臂相对于水平面的角度φ;
根据样本分辨率需求,调节放大比,即调整所述X射线源与所述探测器相对样本的位置,对扫描锥束锥角或计数水平有特殊要求的情况,可拉近或推远所述探测器及所述X射线源;
将样本扫描重点通过所述载物台微调移动至所述载物架中心;
开始扫描时,所述载物台带动样本进行自转运动,及/或机械臂带动所述X射线源与所述探测器进行转动一定角度,采集所述探测器获得的投影数据;
利用计算机对投影数据应用相对应的算法进行重建得到物体的断层图像。
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