[发明专利]一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体地说是一种实用性强、基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法。

背景技术

随着IT领域技术的不断发展，传统信息化服务以及日趋强大的云计算服务，对服务器的安全可靠要求越来越高。作为服务器产品提供商，一款服务器无论是在研发阶段还是生产阶段都需要对产品进行安全性测试，从而严格保证该产品的安全性，其主要体现在RAS性能上。

RAS特性中重要的一点就是内存的RAS特性。内存是一种电子器件，在其工作过程中难免会出现错误，而对于稳定性要求高的用户来说，内存错误可能会引起致命性的问题。内存错误根据其原因还可分为硬错误和软错误。硬件错误是由于硬件的损害或缺陷造成的，因此数据总是不正确；软错误是随机出现的，例如在内存附近突然出现电子干扰等因素都可能造成内存软错误的发生。

RAS性能指的是机器的可靠性(Reliability)、可用性(Availability)和可服务性(Serviceability)，系统必须尽可能的可靠，不会意外的崩溃，重启甚至导致系统物理损坏，这意味着一个具有可靠性的系统必须能够对于某些小的错误导致的硬件功能失效做出热备。Memory RAS中的Rank Spare功能可以对内存出现达到阈值的ECC Error做到容错热备功能，它的测试方法也是多种多样，基于此，现提供一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法，该方法使用ITP工具给内存注错，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值来考量Memory RAS功能是否成功实现。

发明内容

本发明的技术任务是针对以上不足之处，提供一种实用性强、基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法。

一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法，其具体实现过程为：

一、准备Windows测试机和Windows控制端；

二、用ITP工具连接测试机和控制端；

三、测试机上电开机，进入BIOS Setup界面；

四、将所要设为spare的内存rank设置为[Enabled]，同时设置阈值Spare Error Threshold；

五、保存设置后退出，重启测试机，待测试机进入Windows系统；

六、在控制端输入指令，给测试机内存上设置了spare的rank注入单bit ECC Error；

七、待注错结束后，输入指令查看该Rank上ECC Error数目，由于此rank目前作为热备且没有工作，Error数目为0，即保持不变；

八、再给该内存中没有设置为Spare的其它Rank注入单bit ECC Error；

九、待注错结束后，查看相应内存中的rank上ECC Error数目增加1；

十、继续给该内存中没有设置为Spare的Rank注入单Bit ECC Error，直至error数目达到BIOS中设定的阈值；

十一、输入指令查看该相应内存中的Rank上ECC Error数目变为0；

十二、继续给该Rank注错，查看该Rank上的ECC Error数目为0保持不变；

十三、再重新给设置为Spare的Rank注入单bit ECC Error；

十四、输入指令查看相应内存中的ECC Error数目增加1。

所述Windows测试机是指安装Windows操作系统的测试平台；Windows控制端是指安装 .Netframework3.5和.Netframework4.0、安装工具Intel? Platform Debug Toolkit，并且拷贝Cscripts脚本的Windows控制端平台。

所述步骤二的详细过程为：将测试平台断电，然后将ITP工具的数据线XDP接口端插在主板的XDP接口，USB口插在控制端的USB端口上，并插上ITP电源。

所述步骤六及步骤十三中给内存的Rank注入单bit ECC Error过程均为：

在控制端打开工具Intel? Platform Debug Toolkit中的Config Console，选择系统相应的平台后，点击Apply连接上测试机；

控制端系统中打开Cscripts脚本文件中的Python控制台startivt_oem.py；

Python控制台中输入指令，给设置为Spare的Rank注入单bit ECC Error。