[发明专利]USB接口测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种USB接口测试装置及测试方法，且特别涉及应用于具有大量测试需求的生产线的USB接口测试装置及测试方法。

背景技术

随着科技发展，近年来对于电子产品的使用更加普及。而不论是个人电脑、移动装置、多媒体产品、周边耗材等等，彼此之间皆需通过特定接口互相连接以传输数据。其中一种目前被广泛应用的连接接口是通用序列总线(Universal Serial Bus,USB)，USB接口支援热插拔和随插即用，常见于鼠标、键盘、打印机、数码相机以及一般消费性电子产品。

由于电子产品对于USB接口的大量需求，为确保产品的出货品质，工厂在生产过程中，如何能够有效对USB接口进行测试，并且控制测试成本，乃目前业界所致力的课题之一。

发明内容

本发明的目的在于提供一种USB接口测试装置及测试方法，使得于大量测试时，能够有效控制测试成本，降低测试耗材的使用。

根据本发明的第一方面，提出一种USB接口测试装置，用以测试一待测设备的USB接口。USB接口测试装置包括USB接口单元、随机存取记忆体以及处理单元。USB接口单元电性连接至USB接口。处理单元控制随机存取记忆体，将来自USB接口单元的第一测试数据写入随机存取记忆体，并将读取自随机存取记忆体的第二测试数据输出至USB接口单元。

根据本发明的第二方面，提出一种USB接口测试方法，用以测试一待测设备的USB接口。USB接口测试方法包括下列步骤：电性连接USB接口测试装置至USB接口，USB接口测试装置包括随机存取记忆体；将第一测试数据写入随机存取记忆体，第一测试数据来自USB接口；以及从随机存取记忆体读取第二测试数据，第二测试数据输出至USB接口。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1绘示传统测试USB接口的示意图；

图2绘示依据本发明的USB接口测试装置的示意图；

图3绘示依据本发明的USB接口测试方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：

图1绘示传统测试USB接口的示意图。待测设备12可包括一至多个USB接口14，待测设备12例如是用于电脑主机或是数码相机的印刷电路板。于生产过程中欲测试USB接口14时，可使用USB随身碟10。将USB随身碟10连接至USB接口14，接着执行文件的读写操作，包括写入数据到USB随身碟10以及从USB随身碟10读取数据，藉由这样的数据存取操作，以判断USB接口14是否工作正常。

然而，USB随身碟10内部是使用快闪记忆体(flash memory)，而快闪记忆体能够承受的写入次数有限，当超过一定次数的写入动作后，快闪记忆体即无法正常工作。以单阶储存单元(single-level cell,SLC)为例，NOR-flash的写入次数上限约为一百万次，NAND-flash的写入次数上限约为十万次，而若是使用多阶储存单元(multi-level cell,MLC)，则可承受的写入次数更少。

当所需测试的待测设备12数量很大时，(例如于工厂生产线中，每天可能有成千上万个待测的印刷电路板，每个印刷电路板可能也有多个USB接口)，USB随身碟10受限于写入次数的上限，往往于使用短期间后即无法继续使用。这造成测试过程的两个问题，第一，测试结果出现误判：当测试结果出现失败时，由于可能是导因于USB接口14本身或是导因于USB随身碟10已到达写入次数上限的临界点，测试工程师必须再进行复测，以确定真正的问题点，造成多余的时间负担。第二，测试成本提高：由于USB随身碟于使用短期间后即需替换，造成大量的USB随身碟使用损耗问题，需备有足够的测试用USB随身碟，增加了金钱负担。

以下实师例另提出一种USB接口测试装置及测试方法，能够有效控制测试成本，即使是用于有大量测试需求的工厂生产线，亦能避免频繁地替换USB接口测试装置。

图2绘示依据本发明的USB接口测试装置的示意图。USB接口测试装置2用以测试待测设备12的USB接口14。USB接口测试装置2包括USB接口单元20、随机存取记忆体24以及处理单元22。USB接口单元20电性连接至USB接口14。处理单元22控制随机存取记忆体24，将来自USB接口单元20的第一测试数据写入随机存取记忆体24，并将读取自随机存取记忆体24的第二测试数据输出至USB接口单元20。兹详细说明各元件如下。