[发明专利]一种塑料颗粒用分析天平

权利要求书

1.一种塑料颗粒用分析天平，其特征在于：所述塑料颗粒用分析天平包括框体、位于所述框体下方的支撑脚、位于所述支撑脚之间的收集箱、位于所述框体右侧的手持块、与手持快固定连接的连接杆、设置于所述连接杆上的电机、与电机连接的卡勾、设置于所述框体上表面的固定柱、固定柱所支撑的漏斗、设置于所述漏斗内的缓冲片、设置于所述框体内的支撑柱、托盘、与托盘固定连接的托杆、位于所述支撑柱一侧的收容柱、位于所述支撑柱右侧的固定架及延伸臂，所述位于所述支撑柱左侧的托杆下方设有一通槽。

2.如权利要求1所述之塑料颗粒用分析天平，其特征在于：所述框体呈长方体。

3.如权利要求2所述之塑料颗粒用分析天平，其特征在于：所述支撑脚的上表面与所述框体的下表面固定连接。

4.如权利要求3所述之塑料颗粒用分析天平，其特征在于：所述收容柱的上端向左倾斜，所述收容柱与所述支撑柱之间形成一开口。

5.如权利要求4所述之塑料颗粒用分析天平，其特征在于：所述延伸臂位于所述固定架的下方，所述延伸臂呈L型。

6.如权利要求5所述之塑料颗粒用分析天平，其特征在于：所述手持块呈长方体且位于所述框体外。