[发明专利]一种矢量信号分析装置及方法

权利要求书

1.一种矢量信号分析装置，其特征在于，包括：ADC模块、I/Q变换器、整数抽取模块、小数抽取模块和矢量解调分析模块；

ADC模块对接收到的中频信号进行A/D量化；

I/Q变换器对ADC模块输出的数字信号进行I/Q变换得到基带I/Q数据；

整数抽取模块接收I/Q变换器输出的I/Q信号，对下变频后的I/Q信号进行整数倍抽取，整数抽取模块采用多级CIC滤波器和半带滤波器级联的方式，每级CIC滤波器和每级半带滤波器前均有选择器，CIC滤波器放在抽取级联的前端，半带滤波器在CIC滤波器的后端；

小数抽取模块将整数抽取模块输出的I/Q数据的数据速率转化为整数倍的码元速率，还可以对I/Q数据文件进行小数倍数据速率抽取变换；

矢量解调分析模块对上述小数抽取模块输出的I/Q数据进行后续的矢量解调分析。

2.如权利要求1所述的一种矢量信号分析装置，其特征在于，所述ADC模块采用固定采样率，采样率取值为10MHz的整数倍。

3.如权利要求1所述的一种矢量信号分析装置，其特征在于，所述I/Q变换器接收所述ADC模块输出的中频信号，经两个相乘器所构成的混频器后，将输入的数字信号和数字本振所产生的正交正弦信号相乘，相乘结果为基带I/Q数据。

4.如权利要求1所述的一种矢量信号分析装置，其特征在于，所述整数抽取模块的抽取因子以1、2、5、10固定档位步进。

5.如权利要求4所述的一种矢量信号分析装置，其特征在于，所述CIC滤波器采用5级级联的方式，半带滤波器采用3级级联的方式。

6.如权利要求1所述的一种矢量信号分析装置，其特征在于，小数抽取模块采用sinc内插滤波进行小数倍抽取，得到整数倍码元速率的I/Q数据。

7.如权利要求1所述的一种矢量信号分析装置，其特征在于，矢量解调分析模块的信号分析流程包括匹配滤波、矢量解调以及调制质量分析。

8.一种矢量信号分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤(a)，对接收到的中频信号进行A/D量化；

步骤(b)，对A/D量化后的数字信号进行I/Q变换，将速率较高的数字中频信号下变频为基带I/Q数据；

步骤(c)，对下变频后的I/Q信号进行整数倍抽取，整数抽取采用多级CIC滤波器和半带滤波器级联的方式，每级CIC滤波器和每级半带滤波器前均有选择器，CIC滤波器放在抽取级联的前端，半带滤波器在CIC滤波器的后端；

步骤(d)，将整数倍抽取后的I/Q数据的数据速率转化为整数倍的码元速率，还可以对I/Q数据文件进行小数倍数据速率抽取变换；

步骤(e)，对步骤(d)处理后的I/Q数据进行矢量解调分析。

9.如权利要求8所述的一种矢量信号分析方法，其特征在于，步骤(b)中，I/Q变换的步骤具体包括：A/D量化后的数字信号经两个相乘器所构成的混频器混频后，将输入的数字信号和数字本振所产生的正交正弦信号相乘，相乘结果为基带I/Q数据。

10.如权利要求9所述的一种矢量信号分析方法，其特征在于，矢量解调分析包括匹配滤波、矢量解调以及调制质量分析。