[发明专利]一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺

权利要求书

1.一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，包括如下步骤：

S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料；

S2、沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样半成品；

S3、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；

S4、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。

2.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，待测样品为直径小于火花台激发口直径的圆钢。

3.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，待测样品为长边和短边均小于火花台激发口直径的钢片。

4.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，试样半成品为完全覆盖火花台激发口的圆形试样或多边形试样。