[发明专利]一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统

说明书

技术领域

本发明涉及光电直读光谱仪技术领域，尤其涉及一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统。

背景技术

光电直读光谱仪是分析黑色金属及有色金属成份的快速定量分析仪器。具有分析速度快、准确度高等优点，适用于较宽的波长范围，其光电倍增管对信号放大能力强，对强弱不同谱线可用不同的放大倍率，相差可达10000倍，而且线性范围宽，可做高含量分析，如Al、Pb、Mg、Zn、Sn、Fe、Co、Ni、Ti、Cu等多种基体分析。

光电直读光谱仪广泛应用于冶金、机械及其他工业部门，进行冶炼炉前的在线分析以及中心实验室的产品检验，是控制产品质量的有效手段之一。而光学室是测定激发火花光源激发发光样品产生特征光谱线的地方，负责样品特征光谱线的测量。

发明内容

为了解决背景技术中存在的技术问题，本发明提出了一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统，结构简单，调节方便，可以方便快捷地进行各种发光样品的成份及其成份含量的测量。

本发明提出的一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统，包括设置在光学室外的样品、激发火花光源和设置在光学室内的透镜、凹面反光镜、入射调节狭缝装置、凹面光栅、多个出射狭缝装置和多个光电倍增管，出射狭缝装置、光电倍增管活动安装在光学室内，激发火花光源激发样品发射特征光谱线，特征光谱线入射到光学室内，通过透镜反射到凹面反光镜上，凹面反光镜反射出来的特征光谱线通过入射调节狭缝装置反射给凹面光栅，凹面光栅把特征光谱线分解成按波长大小顺序排列的单色平行光，凹面光栅反射单色平行光通过对应的出射狭缝装置射到对应的光电倍增管阴极上，光电倍增管将对应的单色平行光的特征光谱线强度转变成电流信号并放大电流信号进行发光物质的成份及其成份含量的测量。

优选地，各个光电倍增管设置在对应的出射狭缝装置的出射端。

优选地，光学室外设有Hg光源，Hg灯光源产生的基体线入射到光学室内经过凹面反光镜、入射调节狭缝装置完成Hg灯光源光学准直。

优选地，入射调节狭缝装置包括入射狭缝、调节入射狭缝大小的挡片以及调节挡片移动的手轮。

本发明提出的一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统，激发火花光源激发样品发出的特征光谱线射到透镜之后，均匀地照在入射调节狭缝装置上，进入射调节狭缝装置的光，经凹面反光镜转向射到凹面光栅上，凹面光栅把特征光谱线分解成按波长大小顺序排列的单色平行光，并由凹面光栅射出形成沿水平方向展开的光谱带，通过对元素特征线辩认，在对应的光线处放置出射狭缝装置及光电倍增管，并通过光电倍增管测量对应光线相对强度，便知发光物质的成份及其成份含量。

附图说明

图1为本发明提出的一种光电直读光谱分析系统的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，图1为本发明提出的一种光电直读光谱分析系统的结构示意图。

参照图1，本发明提出的一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统，包括设置在光学室10外的样品11、激发火花光源12和设置在光学室10内的透镜13、凹面反光镜14、入射调节狭缝装置15、凹面光栅16、多个出射狭缝装置17和多个光电倍增管18，入射调节狭缝装置15包括入射狭缝、调节入射狭缝大小的挡片以及调节挡片移动的手轮，出射狭缝装置17、光电倍增管18活动安装在光学室10内，各个光电倍增管10设置在对应的出射狭缝装置17的出射端，激发火花光源12激发样品11发射特征光谱线，特征光谱线入射到光学室10内，通过透镜13反射到凹面反光镜14上，凹面反光镜14反射出来的特征光谱线通过入射调节狭缝装置15反射给凹面光栅16，凹面光栅16把特征光谱线分解成按波长大小顺序排列的单色平行光，凹面光栅16反射单色平行光通过对应的出射狭缝装置17射到对应的光电倍增管18阴极上，光电倍增管18将对应的单色平行光的特征光谱线强度转变成电流信号并放大电流信号进行发光物质的成份及其成份含量的测量。

本发明中，激发火花光源12激发样品11发出的特征光谱线射到透镜13之后，均匀地照在入射调节狭缝装置15上，进入射调节狭缝装置15的光，经凹面反光镜14转向射到凹面光栅16上，凹面光栅16把特征光谱线分解成按波长大小顺序排列的单色平行光，并由凹面光栅16射出形成沿水平方向展开的光谱带，通过对元素特征线辩认，在对应的光线处放置出射狭缝装置17及光电倍增管18，并通过光电倍增管18测量对应光线相对强度，便知发光物质的成份及其成份含量。