[发明专利]平板探测器的使用方法和控制装置

说明书

技术领域

本发明涉及探测器技术领域，尤其涉及一种平板探测器的使用方法和控制装置。

背景技术

平板探测器(Flat Panel Detector，FPD)是由精密电子元器件构成的成像探测设备，能够通过面阵探测器，将放射线透照物体后生成的图像信号转换成易于存储和处理，并且符合一定标准的数字图像。

在平板探测器的使用过程中，随着接受剂量的增加，会出现老化，性能变差等现象。由于平板探测器的价格非常昂贵，因此如何提高平板探测器的寿命，在降低成本方面就显得非常重要。

发明内容

本发明实施例解决的问题是如何提高平板探测器的使用寿命。

为解决上述问题，本发明实施例提供一种平板探测器的使用方法，包括：计算第k次照射在所述平板探测器上的使用面积；根据预估的所述平板探测器有效面积上探测单元累计所接受的剂量以及所述使用面积，确定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围，使所述平板探测器的有效面积上所接受的累积剂量均匀。

可选的，所述计算第k次照射在所述平板探测器上的使用面积包括：根据第k次照射确定的射野、照射源到所述平板探测器的距离以及照射源到被照射物的距离，计算本次照射在所述平板探测器上的使用面积。

可选的，根据预估的所述平板探测器有效面积上探测单元累计所接受的剂量以及所述使用面积，确定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围包括：检测当所述射野的中心在所述平板探测器上的不同探测单元时，所述平板探测器的有效面积上探测单元累计所接受的剂量；选取使所述平板探测器所接受的累计剂量最平均时射野中心所在的探测单元，作为所述射野的中心在平板探测器上的位置；根据所述射野的中心在平板探测器上的位置以及所述使用面积，划定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围。

可选的，通过公式依次计算所述射野的中心在每个探测单元上时，各探测单元所接受的累计剂量的均方差；其中，所述TD_k(i，j)为所述平板探测器有效面积上的探测单元(i，j)在第k次照射成像后所接受的累积剂量；所述为所述平板探测器各探测单元在第k次照射成像后所接受的平均累计剂量；所述i，j均为正整数。

可选的，所述平板探测器有效面积上的探测单元(i，j)在第k次照射成像后所接受的累积剂量，通过TD_k-1(i，j)+I(i，j)_k/G_k计算；其中，TD_k-1(i，j)为所述平板探测器有效面积上的探测单元(i，j)在第k次成像前累积接受的剂量；I(i，j)_k为第k次成像中所述探测单元(i，j)的预估成像灰度值；G_k为第k次成像中的平板探测器增益。

可选的，检测当所述射野的中心在所述平板探测器上的不同探测单元时，所述平板探测器的有效面积上探测单元累计所接受的剂量之前，还包括：根据所述平板探测器有效面积分布区域的边缘与所述使用面积的分布区域之间的距离，确定所述射野中心于所述平板探测器上的可选范围。

为了解决上述的技术问题，本发明实施例还公开了一种平板探测器的控制装置，包括：计算单元，用于计算第k次照射在所述平板探测器上的使用面积；判定单元，用于根据预估的所述平板探测器有效面积上探测单元累计所接受的剂量以及所述使用面积，确定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围，使所述平板探测器的有效面积上所接受的累积剂量均匀。

可选的，所述计算单元根据第k次照射确定的射野、照射源到所述平板探测器的距离以及照射源到被照射物的距离，计算本次照射在所述平板探测器上的使用面积。

可选的，所述判定单元包括：检测子单元，用于检测当所述射野的中心在所述平板探测器上的不同探测单元时，所述平板探测器的有效面积上探测单元累计所接受的剂量；选取子单元，用于选取使所述平板探测器所接受的累计剂量最平均时射野中心所在的探测单元，作为所述射野的中心在平板探测器上的位置；划定子单元，用于根据所述射野的中心在平板探测器上的位置以及所述使用面积，划定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围。