[发明专利]板卡老化装置和板卡老化装置的使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及通信技术，具体涉及一种板卡老化装置和板卡老化装置的使用方法。

背景技术

电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类，第一类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活(暴露)。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。电子产品的失效曲线图如图1所示。

老化后进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之前。这种为提高电子产品可靠度和延长产品使用寿命，对稳定性进行必要的考核，以便剔除哪些有“早逝”缺陷的潜在“个体”(元器件)，确保整机优秀品质和期望寿命的工艺就是高温老化的原理。

基于上述高温老化原理，目前，对无线网络控制器(Radio Network Controller，简称RNC)后插卡一般是在常温环境下通电12个小时，老化时间比较长，并且一块后插卡需要与其配合的前插卡为其供电，待测试板卡的种类和数量都有一定的局限，导致了整个后插卡的老化测试效率非常低，当老化测试完成后，需要人工抄录老化测试记录，这给整个生产线的老化测试带来了极大的不便。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种板卡老化装置和板卡老化装置的使用方法，通过该板卡老化装置，减少了待测试板卡的老化时间，提高了待测试板卡测试的效率。

第一方面，本发明提供一种板卡老化装置，包括：

多个用于插接多个待测试板卡的槽框；

用于为所述槽框供电的供电模块；

控制终端；

用于将所述控制终端与所述槽框之间的信号进行转换连接的通信模块；

其中，所述控制终端通过所述通信模块与所述槽框中的待测试板卡进行通信，获得所述待测试板卡的信息，并根据所述信息通过所述供电模块对所述待测试板卡进行老化测试。

可选地，每一槽框中的多个待测试板卡并联连接。

可选地，多个槽框串联连接。

可选地，所述供电模块包括供电控制单元和电源转换单元；

所述供电控制单元，用于为所述多个待测试板卡进行通断电；

所述电源转换单元，用于将所述槽框接入的电压转换为所述多个待测试板卡的供电电压，为所述多个待测试板卡供电。

可选地，所述通信模块包括供电驱动单元和串口通信单元；

所述供电驱动单元，与所述供电控制单元连接，用于驱动所述供电控制单元为所述多个待测试板卡进行通断电；

所述串口通信单元与所述槽框连接，用于获取所述多个待测试板卡信息，并将多个待测试板卡信息发送至所述控制终端。

第二方面，本发明还提供一种板卡老化装置的使用方法，包括：

供电模块对多个待测试板卡进行供电，获取所述多个待测试板卡的序列号；

控制终端根据所述多个待测试板卡的序列号，获取所述多个待测试板卡的信息；

所述控制终端根据所述多个待测试板卡的信息确定所述多个待测试板卡的工作电压，并通过所述供电模块向所述多个待测试板卡提供工作电压，实现对所述多个待测试板卡的老化状态进行测试。

可选地，所述方法还包括：

在测试所述待测试板卡的老化过程中，所述控制终端通过所述通信模块获取所述多个待测试板卡的老化状态信息和老化测试记录。

可选地，所述控制终端根据所述多个待测试板卡的序列号，获取所述多个待测试板卡的信息，包括：

所述控制终端根据所述多个待测试板卡的序列号，确定所述多个待测试板卡的工序；

所述控制终端根据所述多个待测试板卡的工序判断所述多个待测试板卡是否需要进行老化测试，当所述多个待测试板卡需要进行老化测试时，根据所述序列号查询所述多个待测试板卡的供电电压。

可选地，所述控制终端通过所述通信模块获取所述多个待测试板卡的老化状态信息和老化测试记录，包括：