[发明专利]显示装置的显示面板

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求2013年11月28日提交的韩国专利申请No.10-2013-0145880的优先权，该专利申请特此出于所有目的以引用方式并入，好像完全在本文中阐述一样。

技术领域

本发明涉及显示装置的显示面板，更特别地，涉及能够防止由于在阵列测试过程中在面板上产生的静电而导致基板受损的显示面板及其构造方法。

背景技术

随着信息社会的发展，对显示图像的显示装置的各种类型的需求正在增加，近来，正在使用的是诸如液晶显示器(LCD)、等离子体显示面板(PDP)、有机发光二极管显示装置(OLED)的各种显示装置。

显示装置之中的液晶显示器包括：阵列基板，其包括薄膜晶体管；上基板，其具有滤色器和/或黑底；液晶层，其插入阵列基板和上基板之间。液晶显示器是其中根据施加在像素区的两个电极之间的电场控制液晶的排列状态从而调节光的渗透性以显示图像的装置。

另外，OLED显示装置包括：薄膜晶体管，诸如开关晶体管和驱动晶体管；第一电极和第二电极；第一基板，其包括布置在第一电极和第二电极之间的有机发光层；第二基板，其粘附到第一基板上。OLED显示装置是其中根据施加到像素区的两个电极之间的电压或电流的大小控制有机材料的发光程度的装置。

图1示出传统显示装置的显示面板或阵列基板的示例。

液晶显示装置或OLED显示装置的显示面板100具有用于向用户提供图像的有源区AA和作为有源区AA的外围区的非有源区NA。通过将第一基板粘附到第二基板来构造显示面板，第一基板是其中薄膜晶体管等被形成为限定像素区的阵列基板，第二基板是其中形成黑底和/或滤色器层的上基板。

就OLED显示面板而言，第二基板只可用作保护基板。

上面形成有薄膜晶体管的阵列基板或第一基板包括：多条选通线GL，其在第一方向上延伸；多条数据线DL，其在垂直于第一方向的第二方向上延伸。各选通线和各数据线限定一个像素区P。在一个像素区P中形成一个或多个薄膜晶体管，各薄膜晶体管的栅极和源极可分别连接到选通线和数据线。

另外，选通焊盘110形成在各选通线GL的端部，作为用于施加选通信号的信号焊盘。在图1中，除了形成在左侧的选通焊盘110之外，选通焊盘(未示出)可另外形成在右侧。

另外，数据焊盘120形成在显示面板100的上部或下部，作为用于向各数据线DL的端部施加数据信号的信号焊盘。

另一方面，在完成制造阵列基板的过程之后执行阵列测试过程，以测试面板的电性质是否存在缺陷(例如，诸如晶体管故障的点缺陷或诸如短路的线缺陷)。对于阵列测试，测试布线在显示面板的两个方向上纵向延伸，以同时向所有选通焊盘和/或数据焊盘施加测试信号。

也就是说，如图1中所示，同时连接多个数据焊盘120的数据线的测试布线140大体平行于选通线在第一方向上纵向延伸，同时连接多个选通焊盘110的选通线的测试布线130大体平行于数据线在第二方向上纵向延伸。

另外，通过连接布线150和160连接测试布线130和140和各焊盘，连接布线150和160在与焊盘的层相同的层上或者与焊盘的层不同的层上由与焊盘的金属材料相同的金属材料形成。

当在制造阵列基板或显示面板之后通过测试布线完成阵列测试时，沿着切割线170切割显示面板，从而完成制造个体显示面板的过程。

另一方面，在阵列测试的过程中可产生静电，此时，可瞬时施加大电压或电流。由于上述测试布线150和160被纵向形成为单条金属布线，因此它们具有大量电荷。因此，由静电造成的电荷通过测试布线和连接布线流入面板中，造成薄膜晶体管或面板的内部布线被击穿，从而造成面板缺陷。

也就是说，由于阵列测试的传统测试布线和连接布线由与数据焊盘或选通焊盘相同的金属图案形成并且具有大量电荷，因此存在的问题是，阵列测试过程中产生的静电流入面板中，从而造成面板受损。

发明内容

开发本发明来解决传统技术中的上述问题，本发明的一方面是提供显示面板，该显示面板能够防止由于阵列测试中产生的静电而导致其受损。

本发明的另一个方面是提供显示面板，该显示面板能够防止在测试阵列基板的过程中静电流入显示面板或阵列基板中。