[发明专利]振荡电路、振荡器、振荡器制造方法、电子设备及移动体

说明书

振荡电路、振荡器、振荡器制造方法、电子设备及移动体。在过驱动检查或驱动等级检查等检查时能够降低可变电容元件等电子元件损坏的可能性。振荡电路(2)包含XO端子、XI端子、振荡部(10)和产生第1电压(控制电压)以及第2电压(Vod)的电压产生电路(20)。振荡部(10)包含一端与XO端子或XI端子连接的可变电容元件(16)。在第1模式下，对XO端子与XI端子之间施加第1振幅的信号，并对可变电容元件(16)的另一端施加第1电压，在第2模式下，对XO端子与XI端子之间施加振幅比第1振幅的信号大的第2振幅的信号，对可变电容元件(16)的另一端施加第2电压，对可变电容元件(16)的两端施加的电压低于可变电容元件(16)的最大额定电压。

技术领域

本发明涉及振荡电路、振荡器、振荡器制造方法、电子设备及移动体。

背景技术

石英振子(压电振子)或MEMS(Micro Electro Mechanical Systems：微机电系统)振子等振子需要进行如下检查来检查振子的特性，该检查包括：施加较大的电流、电压或电力的AC(交流)信号驱动振子来检查振子的频率特性等的过驱动(overdrive)检查、施加使较大的电流、电压或电力的AC信号阶段性地增减的信号驱动振子来检查振子的频率特性等的变动的驱动等级检查等。

另一方面，为了振荡器的小型化，开发了在同一收容容器内收容石英振子和振荡电路的振荡器。因此，为了在同一收容容器内安装石英振子和振荡电路之后检查振子的特性，考虑了各种方法。

在专利文献1中公开了这样的石英振荡器：通过将振荡器的功能端子兼用为石英振子的检查用端子，与独立设置检查用端子的情况相比，能够实现小型化。

专利文献1：日本特开2009-201097号公报

但是，专利文献1所记载的石英振荡器例如在过驱动检查或驱动等级检查等中，有时对内置于振荡电路的可变电容元件的两端施加高电压，可变电容元件可能损坏。尤其，在频率根据控制电压而变化的振荡器中，为了提高频率的电压灵敏度(频率相对于控制电压变化量的变化量)，有时使用栅极氧化膜的膜厚较薄或者L尺寸较小的MOS来实现可变电容元件，这样的可变电容元件耐压较低，当对其两端施加高电压时，更容易损坏或者产品的耐用年数变短。此问题不限于可变电容元件，也会也同样在电容值固定的电容元件或电感器等各种电子元件中产生。

发明内容

本发明是鉴于以上这样的问题点而完成的，根据本发明的几个方式，可提供能够降低在过驱动检查或驱动等级检查等检查时可变电容元件等电子元件被损坏的可能性的振荡电路、振荡器、振荡器的制造方法、电子设备及移动体。

本发明是为了解决上述课题的至少一部分而完成的，可作为以下的方式或应用例来实现。

[应用例1]

本应用例的振荡电路具备：与振子的一端连接的第1端子；与所述振子的另一端连接的第2端子；和与所述第1端子以及所述第2端子电连接的振荡部，所述振荡部包含一端与所述第1端子或所述第2端子电连接的至少1个第1电子元件，具有第1模式和第2模式，在该第1模式中，对所述第1端子与所述第2端子之间施加第1振幅的信号，在该第2模式中，对所述第1端子与所述第2端子之间施加第2振幅的信号，进行如下控制：所述第2振幅的信号的振幅大于所述第1振幅的信号的振幅，在所述第2模式中对所述第1电子元件的两端之间施加的电压低于所述第1电子元件的最大额定电压。

振荡部例如可以是皮尔斯振荡电路、反相型振荡电路、考比兹振荡电路、哈托莱振荡电路等各种振荡电路。

第1电子元件例如可以是可变电容二极管之类的可变电容元件、电容等的电容值固定的电容元件、电感器、电阻等各种元件。

本应用例的振荡电路的至少一部分可由集成电路构成，第1电子元件可形成为集成电路的一部分，或者可以是集成电路的外设部件。