[发明专利]CMOS图像传感器产品的CP测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种WAFER测试装置，尤其涉及一种CMOS图像传感器产品的CP测试装置。

背景技术

如图1所示，CMOS图像传感器产品的WAFER测试(CP测试),需要在探针卡(PROBE CARD)上安装镜头(PUPIL LENS)，才能保证测试的准确性。

现有技术中的方式是固定焦距的镜头，调试效率低、测试成本高。

发明内容

本发明的目的是提供一种调试效率高、测试成本低的CMOS图像传感器产品的CP测试装置。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，包括探针卡，所述探针卡上设有自动对焦的镜头组件，所述自动对焦的镜头组件包括镜头，所述镜头连接有自动马达，所述自动马达与所述探针卡连接。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明实施例提供的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，由于探针卡上设有自动对焦的镜头组件，提高了调试的效率、降低了测试的成本。

附图说明

图1为现有技术中CMOS图像传感器产品的CP测试装置的探针卡的组装结构示意图；

图2为本发明实施例中自动对焦的镜头组件的结构示意图。

图中：1、镜头，2、自动马达，3、FPC柔性电路板，4、探针卡。

具体实施方式

下面将对本发明实施例作进一步地详细描述。

本发明的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，其较佳的具体实施方式如图2所示：

包括探针卡，所述探针卡上设有自动对焦的镜头组件，所述自动对焦的镜头组件包括镜头，所述镜头连接有自动马达，所述自动马达与所述探针卡连接。

所述自动马达通过FPC柔性电路板与所述探针卡连接。

本发明的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，将固定焦距的镜头换成自动对焦的镜头组件，通过FPC柔性电路板，将控制信号引到探针卡上，可以自动控制镜头的焦距，极大的提高了调试的效率、降低了测试的成本。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。