[发明专利]一种显示面板颜色不良的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，具体地，涉及一种显示面板颜色不良的检测方法。

背景技术

随着显示技术的不断进步，显示面板产品不断地向轻薄化方向发展，使COG技术得到广泛地应用；所谓COG，即Chip On Glass，是指把芯片直接制备在玻璃上，以减小显示面板的体积和重量，从而可以使显示面板轻薄化。此外，显示面板的广泛应用，也要求不断地降低显示面板的成本。图1为一种现有的低成本显示面板的像素结构的示意图，该显示面板采用双闸(Dual Gate)技术方案，即，相邻两行像素之间设置两条栅极线，每条数据线两侧各设置两列像素；与普通显示面板相比，其数据线数量减半，而栅极线数量加倍，但由于制备栅极线的成本低于制备数据线的成本，这样可以使显示面板的成本降低。

一般地，显示面板中的一列像素的像素颜色相同，如图1所示，采用双闸技术方案的显示面板的每条数据线连接两个相同颜色的像素列；而在普通的显示面板中，每条数据线一般连接一个相同颜色的像素列。但现有技术中，检测图1所示显示面板是否存在颜色不良(Color Mura)的方法与检测普通的显示面板是否存在颜色不良的方法相同，即：每条数据线向被栅极线选通的各像素提供检测电压，使其被点亮；具体地，在检测过程中，通入显示面板的各信号的时序如图2所示。

上述检测方法在检测普通的显示面板时，可以通过观测一列像素所显示颜色，准确地确定该列像素是否存在颜色不良，以及存在颜色不良的位置；但在检测图1所示显示面板时，与数据线连接的两个相同颜色的像素列都会被点亮，从而使检测者所看到的是两种颜色的混合色，并且只能通过观测该混色，确定显示面板是否存在颜色不良。

根据上述检测方法检测显示面板是否存在不良，即使检测者观测到显示面板所显示的颜色不良，但由于检测者所观看到的为两种颜色的混合色，检测者无法确定导致该不良的是哪种颜色的像素，即检测者无法确定存在颜色不良的像素的位置，这使得检测的效果较差。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种显示面板颜色不良的检测方法，其可以使检测者直接观测到当前检测颜色，而不是当前检测颜色与其他颜色的混色，从而使检测者可以准确地确定显示当前检测颜色的像素是否存在颜色不良，并确定存在颜色不良的像素的位置，获得较好的检测效果。

为实现本发明的目的而提供一种显示面板颜色不良的检测方法，其为被选通的与当前检测颜色相同颜色的像素提供检测电压，使所述像素被点亮；为被选通的与当前检测颜色不同颜色的像素提供第一电压，使所述像素关闭。

其中，每两相邻行像素之间设置有两条栅极线，每条数据线控制两相邻列像素；每行像素中的任意两相邻像素分别与位于该行像素两侧的栅极线连接，每条数据线与位于其两侧的像素连接。

其中，每列像素的颜色相同，且相邻像素列的颜色不同。

其中，所述显示面板为常白模式的显示面板。

其中，所述检测电压等于所述显示面板的公共电极上的电压。

其中，所述显示面板为常黑模式的显示面板。

其中，所述第一电压等于所述显示面板的公共电极上的电压。

本发明具有以下有益效果：

本发明提供的显示面板颜色不良的检测方法，在检测显示面板是否存在颜色不良时，向显示当前检测颜色的像素输入检测电压，使其被点亮，而向其他颜色的像素输入第一电压，使其关闭，使检测者可以直接观测到当前检测颜色，而不是当前检测颜色与其他检测颜色的混色，从而检测者可以准确地确定显示当前检测颜色的像素是否存在颜色不良，并确定存在颜色不良的像素的位置，获得较好的检测效果。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为一种现有的低成本显示面板的像素结构的示意图；

图2为检测图1所示显示面板是否存在颜色不良时输入的各信号的时序图；

图3为本发明提供的显示面板颜色不良的检测方法可检测的第一种显示面板的像素结构的示意图；

图4为本发明提供的显示面板颜色不良的检测方法可检测的第二种显示面板的像素结构的示意图；

图5为检测第一种显示面板时输入的各信号的时序图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。