[发明专利]测量超声波斜探头折射角的试块及其测量方法

权利要求书

1.一种用于测量超声波斜探头折射角的试块，其特征在于：所述的试块包括相互垂直的底面和竖直面、位于底面和竖直面之间的第一圆弧面、位于前后两侧的前侧面和后侧面，所述的第一圆弧面为向内凹陷的一四分之一内圆弧面，所述的前侧面或后侧面靠近第一圆弧面的边缘上刻有角度刻度，所述角度刻度值表示刻度点位置到所述第一圆弧面的圆心的连线与竖直面之间的夹角。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量超声波斜探头折射角的的试块，其特征在于：所述的第一圆弧面的半径为R，所述的第一圆弧面的弧度与被检工件的弧度一致，在第一圆弧面的最高点向上延伸形成第二圆弧面，所述的第二圆弧面与所述的第一圆弧面的圆心、半径相同，所述的试块还包括一第三圆弧面，所述的第三圆弧面的一端与所述的第二圆弧面相连接，另一端与所述的竖直面相连接，且所述第三圆弧面的圆心位于第一圆弧面的最高点，且所述第三圆弧面的半径r<R，在所述第一圆弧面的最高点附近的侧面上标有圆心刻槽O。

3.根据权利要求2所述的一种于测量超声波斜探头折射角的的试块，其特征在于：所述试块的厚度为25mm。

4.使用权利要求1~3任一项所述的试块测量超声波斜探头入射点和折射角的方法，其特征在于：将斜探头放置与被检工件曲率相同的试块的第一圆弧面上，斜探头所发出的声束朝向试块的底面，沿所述的第一圆弧面移动，将底面反射波调整到最大幅值，所述的斜探头入射点位置对应的角度刻度值即为所述斜探头的折射角。

5.根据权利要求4所述的试块测量超声波斜探头入射点和折射角的方法，其特征在于：将所述的超声波斜探头放置在第二圆弧面上，沿所述的圆弧面移动斜探头，斜探头所发出的声束朝向试块的第三圆弧面，将第三圆弧面的反射波调整到最大幅值，此时斜探头入射点处于圆心刻槽O，确定斜探头入射点位置，测量入射点距离斜探头前端的前沿长度，在斜探头上做出入射点位置的标识。