[发明专利]支持多种测试功能复用的输入输出接口电路及其生成方法

说明书

技术领域

本发明涉及微电子领域中的集成电路设计技术领域，特别是一种支持多 种测试功能复用的输入输出接口电路及其生成方法。

背景技术

现场可编程逻辑门阵列(FieldProgrammableGateArray,FPGA)是一 种具有丰富硬件资源、强大并行处理能力和灵活可重配置能力的逻辑器件。 这些特征使得FPGA在数据处理、通信、网络等很多领域得到了越来越多的广 泛应用。

FPGA芯片的一个比较重要的指标就是用户输入输出(IO)的数目，在IO 总数目固定的情况下，能够提供的用户IO数目越多越好。因为FPGA芯片中 存在很多的电路模块需要测试，也就需要将其测试的接口拉到IO上，这样一 来，如果是直接使用专用的测试IO就会导致用户IO数目减少。

此外，随着芯片内部需要测试的电路模块数目不断增加，对测试复用IO 的需求也越来越多，这样会导致对封装有很大的约束，因为大部分测试IO都 需要在各种封装中能够封装出来，当有小封装(封装出来的IO数目很少)需 求时，会导致必要的测试IO不能全部封装出来。

发明内容

本发明提供了一种支持多种测试功能复用的输入输出接口电路及其生成 方法，能够实现用户IO与测试IO的高效复用。

本发明实施例提供了一种支持多种测试功能复用的输入输出接口电路， 包括：边界扫描单元、第二功能复用选择单元和测试功能复用电路；

所述测试功能复用电路包括：输出使能复用选择单元、输出数据复用选 择单元和输入数据复用选择单元；

所述输出使能复用选择单元，通过选择信号选择输出相应的输出使能测 试信号，所述第二功能复用选择单元通过输出使能选通信号选择输出所述输 出使能测试信号或者输出使能信号；

所述输出数据复用选择单元，通过选择信号选择输出相应的测试输出信 号，所述第二功能复用选择单元通过输出数据选通信号选择输出所述测试输 出信号或者输出信号；

所述第二功能复用选择单元通过输入数据选通信号选择是否输入测试输 入信号；当选择输入所述测试输入信号时，所述输入数据复用选择单元通过 选择信号选择输入的所述测试输入信号。

优选的，所述输出使能复用选择单元包括：一个与门和至少两个或门； 所述第二功能复用选择单元包括：二选一选通器；

每个所述或门的第一输入端接入一路输出使能测试信号，第二输入端接 入相应的选择信号的反相信号；

全部所述或门的输出端连接至所述与门的输入端；

所述与门的输出端连接所述二选一选通器的第一输入端，所述二选一选 通器的第二输入端接入所述输出使能信号，通过所述二选一选通器的选通信 号输入端接入所述选通信号选择输出。

优选的，所述输出数据复用选择单元包括：一个或门和至少两个与门； 所述第二功能复用选择单元包括：二选一选通器；

每个所述与门的第一输入端接入一路测试输出信号，第二输入端接入相 应的选择信号；

全部所述与门的输出端连接至所述或门的输入端；

所述或门的输出端连接所述二选一选通器的第一输入端，所述二选一选 通器的第二输入端接入所述输出信号，通过所述二选一选通器的选通信号输 入端接入所述选通信号选择输出。

优选的，所述输入数据复用选择单元包括：至少二个二选一选通器；所 述第二功能复用选择单元包括：一个与门；

所述与门的第一输入端接入所述输入信号，第二输出端接入所述输入数 据选通信号，通过输入数据选通信号选择是否输入测试输入信号；

每个二选一选通器的第一输入端连接所述与门的输出，第二输入端连接 外部输入的所述测试输入信号，通过所述二选一选通器的选通信号输入端接 入的所述选择信号选择输出。

进一步优选的，所述选择信号由所述FPGA内部的控制器产生。

第二方面，本发明实施例提供了一种如上述第一方面所述的支持多种测 试功能复用的输入输出接口电路中，测试功能复用电路的生成方法，所述方 法包括：

建立测试接口列表；所述测试接口列表包括：测试接口编号或测试接口 名称、所述测试接口在不同测试功能下的测试接口线名称，以及对应的信号 方向属性；

使用脚本读入所述测试接口列表；