[发明专利]一种高频微波印制板的介电常数测量方法

权利要求书

1.一种高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)通过机械臂将高频微波印制板的相对两个角夹住，再将测试装置的两个电缆探头分别固定在高频微波印制板的两面的中央；

(2)测量出微波印制板电容上的电压V_c和标准电阻上的电压V_r,根据测试仪频率和量程电阻计算出所述高频微波印制板的电容c(PF)；

(3)通过机械臂将所述高频微波印制板旋转，在旋转的过程中通过光学测量仪测量出高频微波印制板的面积A(CM²)、介质厚度d(CM)和周长L(CM)；

(4)所述测试装置根据所述高频微波印制板的电容c(PF)、面积A(CM²)、介质厚度d(CM)和周长L(CM)计算出高频微波印制板的介电常数。

2.如权利要求1所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，所述测试装置内预先输入以下公式：

ϵr=c0.0885A/d+0.0141L[ln(8L/d)-1]]]>

通过该公式计算出高频微波印制板的相对介电常数ε_r。

3.如权利要求1或2所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，测试仪频率为10KHz。

4.如权利要求1-3任一项所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，所述两个电缆探头内分别设置有磁铁并且其磁性相反。

5.如权利要求1-4任一项所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，所述两个测试探头的探头接触面积为14-40mm²。

6.如权利要求1-5任一项所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，所述量程电阻设置6个，分别是1000KΩ、800KΩ、400KΩ、200KΩ、100KΩ、10KΩ。