[发明专利]曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法

权利要求书

1.曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，将加有楔块的相控阵探头到曲轴上，其特征在于方法步骤如下：

（1）对曲轴表面进行处理；

（2）选择相控阵探头和楔块，楔块使之与曲轴轴颈的曲率一致；

（3）根据曲轴的参数选择阵列探头的检测位置和阵列探头的检测角度；

（4）对超声波相控阵探头进行调试和校准；

（5）通过超声波相控阵探头进行扫查；

（6）待检缺陷的判定。

2.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：所述对曲轴轴颈表面进行处理，所述曲轴表面的粗糙度Ra的值要求不大于6.3μm。

3.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：所述调试，其过程包括声速和零点校验、探头延迟检验、ACG校准以及TCG校准。

4.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：所述扫查，其方式为阵列探头的扇形扫查和无需前后移动只需沿着轴颈周向机械扫查。

5.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：所述扫查，其使用的耦合剂为机油或者是化学浆糊。

6.根据权利要求1所述的曲轴R处内部缺陷的超声波相控阵检测方法，其特征在于：所述扫查，其速度维持在V≤150mm/s。