[发明专利]高频电缆测试平台有效
申请号: | 201410603883.5 | 申请日: | 2014-10-30 |
公开(公告)号: | CN105628981B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 张成;江斌;沈奶连;龚江疆;尹莹 | 申请(专利权)人: | 上海电缆研究所有限公司;上海赛克力光电缆有限责任公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 雷绍宁 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高频 电缆 测试 平台 | ||
本发明公开了一种高频电缆测试平台,包括导电触点和用于将所述电缆的导体压紧在导电触点上的夹具,还包括一个分线座,所述分线座包括一个顶面和多个不同的侧面,所述导电触点分别设置在所述侧面上,所述夹具布置在分线座的外围并与所述导电触点相对,所述分线座上还设有分线导槽,所述分线导槽倾斜地连接在所述顶面和侧面之间。本发明采用了一种具有多面体结构的分线座,可以缩短剥线长度,避免对缆芯的垂直折弯,最大限度地降低对电缆结构的破坏,从而大大提高测试频率。
技术领域
本发明涉及电缆测试系统,具体涉及一种高频电缆测试平台。
背景技术
电缆中通常包含若干对缆芯,在进行电缆测试时,需要将电缆剥开,使每根缆芯的端部露出导体,然后将这些缆芯通过接线装置接入电缆测试系统中进行测试。测试的频率越高,要求电缆的剥线长度必须越短,同时对电缆本身结构的完好程度也要求越高,这样,在进行高频测试时,对高频电缆测试平台提出了更高的要求。
传统的对称数据电缆测试主要集中于低频段(主要为1~350MHz、1~750MHz),对于高频段测试,要么每次只能对一对缆芯进行测试,这样就无法测试多对缆芯相互之间的串音;要么同时对多对缆芯测试一个比较低的频率,而同时测试多对缆芯时,由于接线过程过多地破坏了对称数据电缆的外包层,同样无法得到完整的测试数据。
中国实用新型专利CN2709992Y公开了一种电缆测试平台,它包括多个沿圆弧排列的接线夹具,待测电缆被剥开后,将每条缆芯在同一个平面内呈扇形分开,沿着所述圆弧的半径方向插入各个接线夹具,完成接线。由于接线夹具结构的限制,相邻两个接线夹具之间的距离不可能很小,从而所述圆弧的半径就不可能很小,即电缆的剥线长度不可能很短。这样就限制的电缆的测试频率,一般来说,这种结构的电缆测试平台,其测试频率无法超过1GHz。
中国发明专利200810200066.X公开了一种用于电缆测试系统的高频接线盘,它包括沿圆周方向均布于高频接线盘盘体上的多个夹具,待测电缆从盘体的中心沿垂直于盘体表面的方向插入,将每条缆芯垂直折弯后,使所有的缆芯在同一个平面内呈放射状分布,并沿着半径方向插入各个夹具中,完成接线。这种结构可以缩短电缆的剥线长度,但由于缆芯被垂直折弯,对电缆结构的破坏较大,因此测试频率也只能达到1.2GHz左右。
综上所述,现有技术中的电缆测试系统由于将所有缆芯布置在同一个平面内进行测试,对电缆结构的破坏较大,因此都无法满足更高频率的测试要求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种高频电缆测试平台,可以降低对电缆结构的破坏,满足更高频率的测试要求。
为了解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:一种高频电缆测试平台,包括导电触点和用于将所述电缆的导体压紧在导电触点上的夹具,还包括一个分线座,所述分线座包括一个顶面和多个不同的侧面,所述导电触点分别设置在所述侧面上,所述夹具布置在分线座的外围并与所述导电触点相对,所述分线座上还设有分线导槽,所述分线导槽倾斜地连接在所述顶面和侧面之间。
优选地,所述导电触点设置在所述分线座顶面的下方,所述分线导槽从所述顶面向外侧和下方倾斜。
优选地,所述分线座顶面呈正多边形,所述正多边形的内切圆直径小于所述电缆的直径。
优选地,所述分线座的各侧面均与顶面相垂直。
优选地,所述分线座的各侧面均为斜面,且各侧面的倾斜方向与各分线导槽的倾斜方向对应一致。
优选地,所述分线座的上面还盖有屏蔽罩,所述屏蔽罩的中心设有供所述电缆穿过的通孔。
优选地,所述夹具包括一个固定座和一个可以在固定座中直线滑动的滑块,所述滑块的前端设有与所述导电触点相对的夹紧面,所述滑块的后端通过第一铰接点与一根连杆的前端相铰接,所述连杆的后端通过第二铰接点与一根压杆的中部相铰接,所述压杆的下端通过第三铰接点铰接在所述固定座上。
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