[发明专利]一种组合式大径量规

说明书

技术领域

本发明属于内花键孔的加工制造领域，具体地说，尤其涉及一种用于检测内花键孔的组合式大径量规。

背景技术

完成内花键孔的加工后，需要检测内花键孔的大径尺寸是否超差。现有的检测办法是进行多次分组，并分别通过通规和止规来测量内花键孔的大径是否超差，检测效率低，检测精度差，为此急需解决上述技术难题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种检测效率高、精度好的组合式大径量规。

本发明的技术方案如下：一种组合式大径量规，其特征在于：该量规的本体(1)为五段式阶梯结构，从左往右依次为导向圆柱段(1a)、第一外花键段(1b)、第二外花键段(1c)、第三外花键段(1d)和手握圆柱段(1e)，左边的四段直径依次增大，且手握圆柱段(1e)的直径最小；所述第一外花键段(1b)为第一组的通端，所述第二外花键段(1c)为第一组的止端和第二组的通端，且所述第三外花键段(1d)为第二组的止端。

在以上技术方案中，导向圆柱段(1a)可以对内花键孔进行导向。检测时，通过第一外花键段(1b)、第二外花键段(1c)、第三外花键段(1d)来对内花键孔分组、检测，这样就能很好地检测出内花键孔大径的尺寸范围，从而得知大径尺寸是否超差，且本量规结构简单，易于实施，具有很好的实用性。

为了便于加工，所述导向圆柱段(1a)与第一外花键段(1b)的连接处、第一外花键段(1b)与第二外花键段(1c)的连接处以及第二、三外花键段(1c、1d)的连接处均加工有退刀槽。

为了便于手握，特在所述手握圆柱段(1e)的外圆面上滚有网纹。

有益效果：本发明能在对内花键孔分组的同时检测内花键孔的大径，从而得知大径尺寸是否超差，且本量规结构简单，易于实施，检测方便，具有很好的实用性。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明：

如图1所示，一种组合式大径量规，该量规的本体1为五段式阶梯结构，从左往右依次为导向圆柱段1a、第一外花键段1b、第二外花键段1c、第三外花键段1d和手握圆柱段1e，左边的四段直径依次增大，且手握圆柱段1e的直径最小，并在手握圆柱段1e的外圆面上滚有网纹。为了便于加工，所述导向圆柱段1a与第一外花键段1b的连接处、第一外花键段1b与第二外花键段1c的连接处以及第二、三外花键段1c、1d的连接处均加工有退刀槽。

所述第一外花键段1b为第一组的通端，所述第二外花键段1c为第一组的止端和第二组的通端，且所述第三外花键段1d为第二组的止端。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不以本发明为限制，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。