[发明专利]一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统

权利要求书

1.一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

S1、将检测插件置入到Eclipse平台；

S2、在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径；

S3、根据所选择的缺陷模式和存储路径，选择所述Eclipse平台中待测试java文件和/或待测试工程并执行检测；

S4、分析并处理检测结果。

2.根据权利要求1所述的基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：

S31、选择待测试工程，获取所述待测试工程的路径信息，并将其作为参数传递给缺陷检测线程，所述缺陷检测线程读取所述待测试工程的参数并执行检测；

S32，选择待测试java文件，获取所述待测试java文件的相关路径信息，并将其作为参数传递给所述缺陷检测线程，所述缺陷检测线程读取所述待测试java文件的参数并执行检测。

3.根据权利要求2所述的基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法，其特征在于，所述待测试工程的参数包括：所述待测试工程的绝对路径、结果数据库存放路径以及缺陷模式的用户配置结果。

4.根据权利要求2所述的基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法，其特征在于，所述待测试java文件的参数包括：所述待测试java文件的绝对路径、结果数据库存放路径以及缺陷模式的用户配置结果。

5.根据权利要求1所述的基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S4包括：将检测结果分类并分别排序，然后对每个检测结果进行判断并保存判断结果。

6.根据权利要求1所述的基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

步骤S5，将处理后的检测结果导出并生成报表文件。

7.一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：

插件置入单元，用于将检测插件置入到Eclipse平台；

参数配置单元，用于在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径；

检测单元，用于根据所选择的缺陷模式和存储路径，选择所述Eclipse平台中的待测试java文件和待测试工程并执行检测；

分析单元，用于对检测结果进行分析和处理。

8.根据权利要求7所述的基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统，其特征在于，所述系统还包括：

导出单元，用于将处理后的检测结果导出并生成报表文件。