[发明专利]一种定量分析溴化银团簇光催化性能的方法有效

专利信息
申请号: 201410612491.5 申请日: 2014-11-04
公开(公告)号: CN104330371B 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 匙玉华;赵联明;丁秋月;徐文彬;郭文跃 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 陈海滨
地址: 266580 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 定量分析 溴化银 光催化 性能 方法
【权利要求书】:

1.一种定量分析溴化银团簇光催化性能的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)团簇模型构建和优化

根据已有的溴化银晶体结构数据,将其导入Material Studio软件中的Demol模块,创建团簇模型的初始结构,然后对其进行结构优化计算,构型优化和能量计算采用量子化学密度泛函理论DFT的GGA方法,电子交换势采用PBE函数,电子相关函数采用DFT Semi-corePseudopots,基组选用DNP,计算得到最稳定结构;

(2)电子结构和吸收光谱的计算

在Castep模块中建立大小合适的晶格结构,将团簇的最稳定结构导入晶格结构,采用GGA,PBE方法计算溴化银团簇的电子能态结构,能带的组成和位置,以及团簇的吸收光谱;

(3)光催化性能的分析与表征

由计算所得到的吸收光谱所对应光的波长,能够分析溴化银团簇光响应区域是紫外区λ<400nm还是可见光区域λ介于400-760nm,以及吸收光谱随团簇大小变化的规律;

通过公式ECB=X-EC-0.5Eg,其中X代表溴化银各原子电负性的几何平均值,EC是自由电子以氢为标准时的电势(~4.5eV),Eg是溴化银体系的带隙,确定溴化银的导带的边缘位置;通过公式EVB=Eg+ECB确定溴化银价带的边缘位置,由价带和导带的边缘位置就能够分析其氧化还原能力,从而判断其光催化性能的强弱,ECB越负,还原能力越强;EVB越正,氧化能力越强。

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