[发明专利]钢卷高度对中装置及其方法

权利要求书

1.一种钢卷高度对中装置，用于钢卷(2)上卷时与开卷机芯轴(51)之间的高度对中，它包括上卷小车(1)，所述上卷小车(1)上设置有用于安放钢卷(2)的鞍座(11)和用于调节钢卷(2)高度的升降装置(12)，其特征在于：

所述上卷小车(1)上还设置有用于记录提升装置对钢卷(2)的提升高度的提升编码器(13)和用于限定提升装置机械零点的限位器(14)；

所述上卷小车(1)的移动轨道(15)两侧分别设置有一个立柱(3)，其中一侧立柱(3)上设置有用于发出集中光束的定位光源(31)，另一侧立柱(3)上设置有用于接收定位光源(31)发射光的光接收装置(32)，所述定位光源(31)与所述光接收装置(32)位于同一高度且其连线与所述移动轨道(15)垂直。

2.根据权利要求1所述的钢卷高度对中装置，其特征在于：所述定位光源(31)为激光或光栅。

3.根据权利要求1或2所述的钢卷高度对中装置，其特征在于：所述立柱(3)上设置有用于调节定位光源(31)或光接收装置(32)高度的高度调节装置(4)。

4.根据权利要求3所述的钢卷高度对中装置，其特征在于：所述高度调节装置(4)包括三角形支架(41)、滑动轨道(42)、光源底座(43)和调节螺栓(44)，所述三角形支架(41)与滑动轨道(42)固定于对应的立柱(3)上，所述光源底座(43)底面上设置有与滑动轨道(42)滑动配合的导轨，所述三角形支架(41)的水平边上设置有与所述调节螺栓(44)相匹配的螺孔，所述调节螺栓(44)穿过三角形支架(41)的水平边并与光源底座(43)接触。

5.根据权利要求1或2所述的钢卷高度对中装置，其特征在于：还包括用于测量或校准开卷机芯轴(51)高度的第一激光测距仪(52)，以及用于测量或校准定位光源(31)位置的第二激光测距仪(45)。

6.根据权利要求3所述的钢卷高度对中装置，其特征在于：还包括用于测量或校准开卷机芯轴(51)高度的第一激光测距仪(52)，以及用于测量或校准定位光源(31)位置的第二激光测距仪(45)。

7.根据权利要求4所述的钢卷高度对中装置，其特征在于：还包括用于测量或校准开卷机芯轴(51)高度的第一激光测距仪(52)，以及用于测量或校准定位光源(31)位置的第二激光测距仪(45)。

8.一种采用权利要求1所述钢卷高度对中装置的钢卷高度对中方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)、将载有钢卷(2)的上卷小车(1)移动至测量工位，调整钢卷(2)的位置使钢卷(2)内圆柱轴与定位光源(31)发出的光束平行且二者所在平面与所述移动轨道(15)所在的平面垂直，钢卷(2)在升降装置(12)的作用下缓慢下降，当下降到限位器(14)所限制的最低位置时，即达到机械零点，此时对所述提升编码器(13)进行校零，测量定位光源(31)高度为h₀，测量开卷机芯轴(51)的中心高度为h_t，所述h₀、h_t为相对于同一水平面的高度；

2)、通过升降装置(12)提升钢卷(2)，使钢卷(2)上部挡住定位光源(31)发出的光束，继续提升钢卷(2)，当光束刚好被光接收装置(32)接收到即钢卷内径上沿(21)与光束对齐时，记录此时提升编码器(13)的读数y₁；

3)、继续提升钢卷(2)，当光束刚好又被挡住即钢卷内径下沿(22)与光束对齐时，记录此时提升编码器(13)的读数y₂，根据几何关系，可以计算出此时钢卷(2)中心位置为h₀+(y₂-y₁)/2；

4)、设Δh＝h_t-h₀+(y₁-y₂)/2，根据上述步骤中测得的h₀、h_t、y₁、y₂计算出Δh，当Δh＝0时，此时钢卷(2)高度已完成对中；当Δh>0时，向上提升钢卷(2)高度Δh以完成对中；当Δh＜h₀时，向下降低钢卷(2)高度|Δh|以完成对中。