[发明专利]丙酮气敏传感器及其制备方法有效
申请号: | 201410621459.3 | 申请日: | 2014-11-05 |
公开(公告)号: | CN104297303A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 傅剑宇;吴迪;周博天;袁野;严胡勇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
主分类号: | G01N27/12 | 分类号: | G01N27/12 |
代理公司: | 成都赛恩斯知识产权代理事务所(普通合伙) 51212 | 代理人: | 张帆;肖国华 |
地址: | 400714 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 丙酮 传感器 及其 制备 方法 | ||
1.一种丙酮气敏传感器,其特征在于,包括:
底座(1),所述底座(1)包括镂空结构(7);
支撑层(2),一侧与所述底座(1)的正面复合,且所述支撑层(2)悬空地架设在所述镂空结构(7)上;
加热电阻(3),设置在所述支撑层(2)的另一侧;
绝缘层(4),复合在所述加热电阻(3)及所述支撑层(2)的所述另一侧;
两个电极(5),间隔地设置在所述绝缘层(4)的远离支撑层(2)一侧的表面上;
对丙酮气体敏感的敏感层(6),设置在所述绝缘层(4)的外侧,且所述两个电极(5)分别与所述敏感层(6)的两侧连接。
2.根据权利要求1所述的丙酮气敏传感器,其特征在于,所述敏感层(6)是氧化物半导体,优选地,可以是氧化锌、氧化锡、或氧化钨等材料、或在这些材料基础上掺杂得到的材料,优选地所述敏感层(6)的厚度为0.1微米至1微米。
3.根据权利要求1所述的丙酮气敏传感器,其特征在于,所述支撑层(2)是半导体介质,优选地可以是氮化硅、或氧化硅等,优选地所述支撑层(2)的厚度在0.1微米至1微米。
4.根据权利要求1所述的丙酮气敏传感器,其特征在于,所述加热电阻(3)是导体,优选地可以是铂、金、多晶硅等,优选地加热电阻(3)的厚度在0.05微米至0.5微米。
5.根据权利要求1所述的丙酮气敏传感器,其特征在于,所述绝缘层(4)是半导体介质,优选地可以是氮化硅、或氧化硅等,优选地所述绝缘层(4)的厚度在0.1微米至1微米。
6.根据权利要求1所述的丙酮气敏传感器,其特征在于,所述电极(5)是金属,优选地可以是金、铂等,优选地所述电极(5)的厚度在0.1微米至0.5微米。
7.根据权利要求1所述的丙酮气敏传感器,其特征在于,所述底座(1)是指硅衬底。
8.一种丙酮气敏传感器的制备方法,其特征在于,包括:
在底座(1)的正面淀积半导体介质从而形成支撑层(2);
在所述支撑层(2)上淀积导体以形成加热电阻(3);优选地,将所述导体经过光刻、刻蚀后形成多个线条形的所述加热电阻(3);
在所述加热电阻(3)上淀积半导体介质以形成绝缘层(4);
在所述绝缘层(4)上淀积金属以形成两个电极(5);优选地,所述电极(5)是金属,优选地可以是金、铂等,优选地所述电极(5)的厚度在0.1微米至0.5微米;
在所述电极(5)上淀积对丙酮气体敏感的氧化物半导体以形成敏感层(6);优选地,所述敏感层(6)是氧化物半导体,优选地,可以是氧化锌、氧化锡、或氧化钨等材料、或在这些材料基础上掺杂得到的材料,优选地所述敏感层(6)的厚度为0.1微米至1微米;
在所述底座(1)的背面通过淀积、光刻、刻蚀形成腐蚀窗口,通过所述腐蚀窗口背面腐蚀所述底座(1)的体硅,以在所述底座(1)上形成镂空结构(7),最终释放得到悬空的不含体硅的多层膜结构。
9.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述背面腐蚀是通过KOH湿法腐蚀或TMAH湿法腐蚀与XeF2干法刻蚀共同实现的。
10.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述支撑层(2)的淀积和所述绝缘层(4)的淀积是通过化学气相沉积实现;优选地,所述加热电阻(3)的淀积和所述电极(5)的淀积是通过溅射、蒸发、电镀中的一种或几种实现的;优选地,所述敏感层(6)的淀积是通过溅射、蒸发、溶胶凝胶、等离子体增强化学气相沉积、喷雾热解、激光烧结中的一种实现的。
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