[发明专利]一种基于边缘结构的背景杂波度量方法

权利要求书

1.一种基于边缘结构的背景杂波度量方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤1：将背景图像分割成大小与目标图像大小相同的单元；

步骤2：建立图像结构特征空间上的目标图像与单元背景杂波图像之间的相 似性度量；

步骤3：通过梯度直方图的方法建立目标图像与单元背景杂波图像的边缘结 构特征描述，并选用巴氏系数计算图像边缘结构的相似性度量；

步骤4：以目标图像与单元背景杂波图像的边缘结构相似性度量对目标图像 和单元背景杂波图像的结构相似性度量进行加权作为单元背景图像的杂波度 量，所有单元背景图像杂波度量的平均值，作为整幅背景图像的杂波度量。

2.根据权利要求1所述的一种基于边缘结构信息的背景杂波量化方法，其特征 在于：所述整幅背景图像的杂波度量计算过程为：

CESSIM(T,Ci)=1-Σi=1mΣj=1n(ρij*SSIMij)/Σi=1mΣj=1n(ρij)]]>

CESSIMrms=1lΣi=1lCESSIM(T,Ci)2]]>

式中：T为目标图像，C_i为第i个单元背景杂波图像，SSIM_ij为图像结构相 似性信息，ρ_ij为对应的梯度方向直方图加权信息，C_ESSIM(T,C_i)为第i个 单元背景图像的杂波度量，m×n为图像大小，l为整幅图像中杂波模块数， C_ESSIMrms为整幅背景图像的杂波度量。