[发明专利]覆铜板剥离强度的测试方法在审

专利信息
申请号: 201410629217.9 申请日: 2014-11-07
公开(公告)号: CN104359833A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 丁宁娃;王剑;宫立军 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司
主分类号: G01N19/04 分类号: G01N19/04
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 郑彤;万志香
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 铜板 剥离 强度 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及印制线路板技术领域,特别是涉及一种覆铜板剥离强度的测试方法。

背景技术

在印制线路板(PCB)工厂,需要对覆铜板来料进行铜箔剥离强度测试检验,以确保覆铜板用于PCB制作后,保证PCB的可靠性符合要求。

目前PCB行业内对覆铜板来料的剥离强度测试,是按照IPC TM-650中规定的制作流程制作的,其过程需要菲林设计、覆铜板贴膜、曝光、显影、蚀刻、退膜等流程,经过这些流程后在覆铜板铜面上形成剥离强度测试线路图形,这种方法虽然可靠,但流程复杂、耗时较长、成本较大。

而目前PCB工厂每天的来料量很大,需要进行大量的测试工作,按照IPC TM-650的规定进行测试已经难以满足工厂生产的需求。

发明内容

基于此,本发明的目的是提供一种简单快速的覆铜板剥离强度的测试方法。

具体的技术方案如下:

一种覆铜板剥离强度的测试方法,包括如下步骤:

(1)测试试样的制作

将待测覆铜板进行裁切得到测试板,所述测试板上设有测试区域,所述测试区域两侧对称设有控深铣区域和夹边区域;

然后对控深铣区域进行控深铣操作,即在测试板铣出测试区域;

(2)确定修正值

将按IPC TM-650标准测试合格的覆铜板按照步骤(1)制作标准测试试样,然后测量剥离强度,得标准测量结果;

所述标准测量结果=TM-650测量结果+修正值;

所述TM-650测量结果为该覆铜板按IPC TM-650标准测试所得的剥离强度值;

(3)结果测定

测量步骤(1)制作的测试试样的剥离强度,得测量结果;

所述待测覆铜板的剥离强度=所述测量结-修正值。

在其中一个实施例中,所述控深铣操作的参数为:控深铣深度=所述待测覆铜板的表铜厚度+Δ,其中Δ<所述待测覆铜板的介质层厚度。

在其中一个实施例中,所述控深铣操作中所使用的铣刀尺寸为0.8-1.6mm。

在其中一个实施例中,所述测试区域的尺寸为:线宽3.18mm,线长>78mm。

在其中一个实施例中,所述夹边区域的宽度为4-6mm。

本发明的有益效果如下:、

(1)本发明方法制作简单方便,步骤极少,操作容易,可大量节省时间,大幅度提高覆铜板剥离强度的测试效率;

(2)本发明方法不需要进行制作菲林,不需要曝光、显影、蚀刻等工序,极大地节约了生产成本。

附图说明

图1为测试试样的示意图。

具体实施方式

以下通过具体实施例对本申请做进一步阐述。

本发明实施例一种覆铜板剥离强度的测试方法,包括如下步骤:

(1)测试试样的制作(如图1所示)

将待测覆铜板进行裁切得到测试板,所述测试板上设有测试区域(按IPC TM-650的规定,测试区域的尺寸为:线宽3.18mm,线长78mm),所述测试区域两侧对称设有控深铣区域和夹边区域(夹边区域的宽度为5mm);

然后对控深铣区域进行控深铣操作,即在测试板铣出测试区域;

所述控深铣操作参数为:控深铣深度=所述待测覆铜板表铜厚度+0.1mm(<该待测覆铜板的介质层厚度);铣刀为新铣刀,尺寸为1.2mm(铣刀的尺寸可以为任意尺寸,可以选定一个尺寸固定下来以便确定修正值)。

(2)确定修正值

将按IPC TM-650标准测试合格的覆铜板按照步骤(1)制作标准测试试样,然后测量剥离强度,得标准测量结果;

所述标准测量结果=TM-650测量结果+修正值;

所述TM-650测量结果为该覆铜板按IPC TM-650标准测试所得的剥离强度值;

(3)结果测定

测量步骤(1)制作的测试试样的剥离强度,得测量结果;

所述待测覆铜板的剥离强度=所述测量结果-修正值。

然后将上述方法得到的待测覆铜板的剥离强度的值与IPC TM-650标准中规定的数值进行比较,确定该待测覆铜板是否合格。

本发明与传统技术相比,在流程、消耗时间、消耗成本方面均有很大的改善,具体如下表所示:

采用本发明的测试方法,每年可为线路板厂节约可观的成本、时间和测试费用,具体如下:

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