[发明专利]一种基于区域统计相似度的合成孔径雷达图像分类方法有效

专利信息
申请号: 201410633242.4 申请日: 2014-11-12
公开(公告)号: CN104361351B 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 邹焕新;秦先祥;周石琳;计科峰 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 国防科技大学专利服务中心43202 代理人: 王文惠
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 区域 统计 相似 合成孔径雷达 图像 分类 方法
【权利要求书】:

1.一种基于区域统计相似度的SAR图像分类方法,SAR是指合成孔径雷达,其特征在于,具体包括下述步骤:

第一步:训练样本区域统计建模:

选择已知目标类型且类型各不相同的M类目标的SAR图像区域,形成训练样本区域集{T1,T2,...,Tj,...,TM},其中第j类目标SAR图像区域Tj表示第j个训练样本区域,j=1,2,...,M;各训练样本区域的PDF集合其中表示Tj中的像素值x的PDF,表示为:

pTj(x)=|vTj|κTjκTjσTjΓ(κTj)(xσTj)κTjvTj-1·exp{-κTj(xσTj)vTj},σTj,|vTj|,κTj,x>0]]>

其中PDF表示概率密度函数,和分别表示的尺度、能量和形状参数,Γ(·)表示Gamma函数,这三个参数利用下述方程组得到:

lnσTj+(Ψ(κTj)-lnκTj)/vTj=c~Tj,1Ψ(1,κTj)/vTj2=c~Tj,2Ψ(2,κTj)/vTj3=c~Tj,3]]>

其中Ψ(·)为digamma函数,Ψ(1,·)和Ψ(2,·)分别表示第1阶和第2阶polygamma函数,和表示Tj的前三阶样本对数累积量,可以由下式计算:

c~Tj,1=(ΣsTjln s)/NTjc~Tj,2=[ΣsTj(ln s-c~Tj,1)2]/NTjc~Tj,3=[ΣsTj(ln s-c~Tj,1)3]/NTj]]>

其中为Tj中的像素个数,s表示Tj中的任意像素的像素值;

第二步:SAR图像分割:

将输入的待分类的实测SAR图像分割为互不重叠的若干区域,形成分割区域集{R1,R2,...,Ri,...,RL},其中Ri表示第i个分割区域,i=1,2,...,L;

第三步:SAR图像区域统计建模:

设各分割区域的PDF集合其中表示Ri中的像素值x的PDF,表示为:

pRi(x)=|vRi|κRiκRiσRiΓ(κRi)(xσRi)κRivRi-1·exp{-κRi(xσRi)vRi},σRi,|vRi|,κRi,x>0]]>

其中和分别表示的尺度、能量和形状参数;这三个参数利用下述方程组得到:

lnσRi+(Ψ(κRi)-lnκRi)/vRi=c~Ri,1Ψ(1,κRi)/vRi2=c~Ri,2Ψ(2,κRi)/vRi3=c~Ri,3]]>

其中和表示Ri的前三阶样本对数累积量,由下式计算:

c~Ri,1=(ΣsRiln s)/NRic~Ri,2=[ΣsRi(ln s-c~Ri,1)2]/NRic~Ri,3=[ΣsRi(ln s-c~Ri,1)3]/NRi]]>

其中为Ri中的样本像素个数,s′表示Ri中的任意像素的像素值;

第四步:分割区域与训练样本区域统计相似度计算:

计算各分割区域与各训练样本区域之间的统计相似度表示为:

S(pRi(x),pTj(x))=exp{-JD(pRi(x),pTj(x))}]]>

其中表示和之间的散度,由下式计算:

JD(pRi(x),pTj(x))=-κRi-κTj+A(Ri,Tj),1+A(Ri,Tj),2+B(Ri,Tj),1+B(Ri,Tj),2]]>

其中:

A(Ri,Tj),1=κRivRi-κTjvTjvRi(ln(σRivRiκRi)+Ψ(κRi))]]>

B(Ri,Tj),1=κTjvTj-κRivRi|vTj|(ln(σTjvTjκTj)+Ψ(κTj))]]>

第五步:SAR图像分割区域类别划分

利用下式将第i个分割区域划分为第j′类目标,即:

j=argmaxj=1,2,...,M{S(pRi(x),pTj(x))},i=1,2,...,L]]>

利用上式获得SAR图像的最终分类结果。

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