[发明专利]测试座有效
申请号: | 201410635334.6 | 申请日: | 2014-11-12 |
公开(公告)号: | CN105588957B | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 张倍铭 | 申请(专利权)人: | 致伸科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/067 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 张睿 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 | ||
本发明关于一种测试座,包括座体、承载座、导电板体、测试探针以及绝缘层。该承载座设置于该座体上,用以承载该被测物。该导电板体设置于该座体上且位于该承载座的上方,用以相对于该座体移动而接近或远离该承载座。该测试探针穿设于该导电板体上,且该测试探针伸出于该导电板体的一下表面,用以于该导电板体接近该承载座时与该电性接点接触。该绝缘层设置于该测试探针上或该导电板体上,用以分隔该测试探针以及该导电板体。由此,本发明测试座不但可避免因静电放电而损坏被测物,且可改善测试准确度下降的问题。
技术领域
本发明关于一种测试座,尤其是关于用以测试具有电性接点的物件的测试座。
背景技术
随着科技的发展,电子装置已普及化至个人使用者,常见的电子装置包括桌上型电脑、笔记型电脑、智能型手机以及平板电脑等,其中,该些电子装置中皆包含有至少一电路板,且电路板上可设置至少一电子元件,该些电子元件可执行特定的功能,且藉由该些电子元件共同运作,使电子装置得以被驱动且运作。其中,电路板上包含有多个导电接点,以电性连接于该些电子元件。
对于电子装置制造商而言,电子装置于制造过程中必须经过测试以确保可正常工作。而电子装置的测试包括对电子装置的电路板的测试以及对制造完成的电子装置进行完整性的测试,对电路板的测试是为了避免于电子装置组装完成之后发现电路板有缺陷存在,必须拆卸电子装置来除错所造成的工时浪费的缺失。
接下来说明测试电路板的测试座的结构。请参阅图1,其为现有测试座的结构示意图。现有测试座1包括座体11、承载座12、塑料板体13以及多个测试探针14,承载座12设置于座体11上,且其功能为承载被测试的电路板10。塑料板体13设置于座体11上且位于承载座12的上方,塑料板体13的功能为设置多个测试探针14于其上,其中塑料板体13可因应使用者的操作而相对于座体11移动,以接近或远离承载座12。多个测试探针14穿设于塑料板体13上且多个测试探针14与塑料板体14的下表面垂直,使得多个测试探针14可于塑料板体13接近承载座12时,与承载座12上的电路板10接触。
当电路板10被放置于承载座12上而欲被测试时,使用者操作而使塑料板体13往下移动,且多个测试探针14分别与电路板10上所对应的多个电性接点(未显示于图中)接触。之后供电予电路板10以侦测电路板10上的多个电性接点的电性功能(例如电阻值、电容值或电感值等),最后,撷取该些电性功能的实际数值且与预设的电性数值比较,而判断该些电性接点正常或异常,以决定电路板10是否通过测试。于测试电路板10的过程中,由于多个测试探针14分别与多个电性接点接触而造成负电离子的移动而会产生静电放电效应,其造成电路板10损坏的机率很高。
因此,需要一种可避免因静电放电而损坏被测物的测试座。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,针对现有技术存在的上述不足,提供一种避免因静电放电而损坏被测物的测试座。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种测试座,用以测试一被测物,且该被测物上具有一电性接点,该测试座包括座体、承载座、导电板体、测试探针以及绝缘层。该承载座设置于该座体上,用以承载该被测物。该导电板体设置于该座体上且位于该承载座的上方,用以相对于该座体移动而接近或远离该承载座。该测试探针穿设于该导电板体上且该测试探针伸出于该导电板体的一下表面,用以于该导电板体接近该承载座时与该电性接点接触。该绝缘层设置于该测试探针上或该导电板体上,用以分隔该测试探针以及该导电板体。
较佳地,该绝缘层设置于该测试探针的一外表面上,且分隔该测试探针以及该导电板体而避免漏电现象。
较佳地,该绝缘层是由绝缘油墨形成,且以涂布方式或印刷方式设置于该测试探针的该外表面上。
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