[发明专利]一种扫描测试锁存器宏单元及扫描测试方法

权利要求书

1.一种扫描测试锁存器宏单元，其特征在于包括：两个锁存器、一个反相器和两个多路选择器；

所述两个锁存器分别为测试锁存器和功能锁存器；两个多路选择器分别为第一多路选择器和第二多路选择器；

第一多路选择器的0数据输入端口与数据端口D连接，1数据输入端口与宏单元的扫描输入端口SI连接，选择输入端口S1与宏单元的扫描使能端口SE连接，数据输出端口Y1与测试锁存器的输入端口D1连接；

反相器的输入端口与宏单元的时钟输入端口CK连接，输出端口与测试锁存器的锁存控制信号输入端口G1连接；

测试锁存器的输出端口Q1与第二多路选择器的1输入端口连接，反相输出端口QN1浮空；

第二多路选择器的0输入端口与数据端口D连接，选择输入端口S2与宏单元的测试模式控制信号端口TM连接，数据输出端口Y2与功能锁存器的输入端口D2连接；

功能锁存器的锁存控制信号输入端口G2与宏单元的时钟输入端口CK连接，输出端口Q2与宏单元的输出端口Q连接，反相输出端口QN2与宏单元的反相输出端口QN连接；

若TM＝0，第二多路选择器输出0输入端口的数据，而不输出1输入端口的数据，第一多路选择器、反相器和测试锁存器对扫描测试锁存器宏单元的输出无作用，功能锁存器工作，扫描输入端口SI和扫描使能端口SE对扫描测试锁存器宏单元的输出无作用，扫描测试锁存器宏单元等效于单个锁存器；

若TM＝1，第二多路选择器输出1输入端口的数据，而不输出0输入端口的数据，测试锁存器的输出端口Q1与功能锁存器的输入端D2连接，扫描测试锁存器宏单元的输入时钟信号为低电平时，测试锁存器有效输出；扫描测试锁存器宏单元的输入时钟信号为高电平时，功能锁存器有效输出，扫描测试锁存器宏单元等效于一个带数据输入选择端的扫描D触发器。

2.根据权利要求1所述的一种扫描测试锁存器宏单元，其特征在于：所述TM＝0时，包含扫描测试锁存器宏单元的电路处于功能态；TM＝1时，包含扫描测试锁存器宏单元的电路处于测试态。

3.一种基于权利要求1中扫描测试锁存器宏单元的扫描测试方法，其特征在于步骤如下：

(1)将扫描测试锁存器宏单元映射到扫描测试电路目标工艺的工艺库，即db库和自动测试向量生成库，即dft库中；

(2)采用包含锁存器单元的db库进行逻辑综合，得到逻辑综合后的扫描测试电路网表；所述逻辑综合是将扫描测试电路原始代码映射为与db库相对应的扫描测试电路网表；

(3)将步骤(2)中得到的扫描测试电路网表进行文本替换，具体为：将扫描测试电路网表中所有的锁存器单元替换为D触发器单元；

(4)利用步骤(3)中文本替换后的扫描测试电路网表进行扫描链插入，得到扫描链插入后的扫描测试电路网表；

(5)将步骤(4)中扫描链插入后的扫描测试电路网表进行文本替换，得到包含扫描测试锁存器宏单元的扫描测试电路网表；具体为：将扫描链插入过程中产生的扫描D触发器单元替换为扫描测试锁存器宏单元，并将扫描测试锁存器宏单元的扫描使能端口SE与扫描测试电路的扫描使能输入端口连接，将扫描测试锁存器宏单元的测试模式控制信号TM与扫描测试电路的测试模式控制信号连接；

(6)利用步骤(5)中包含扫描测试锁存器宏单元的扫描测试电路网表，采用步骤(1)中包含扫描测试锁存器宏单元的db库进行扫描测试电路的布局布线、时序分析、功能仿真和时序仿真，并利用步骤(1)中包含扫描测试锁存器宏单元的dft库产生自动测试向量，即ATPG测试向量；

(7)利用步骤(6)中得到的扫描测试电路和ATPG测试向量进行扫描测试电路的扫描测试。