[发明专利]一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置

权利要求书

1.一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法，其特征在于，包括：

计算第m列所有光谱通道中心波长与无偏离中心波长λ_j之间的欧氏距离，选择距离最小的位置点s以及所述位置点对应的中心波长为λ_m，s，在相邻的光谱通道上，选择与所述位置点s相邻的位置点以及所述相邻的位置点对应的中心波长，其中，m取值为1～N，j取值为1～M，M为穿轨方向的像素个数，N为沿轨方向的像素个数；

计算所述位置点s对应的中心波长λ_m，s与无偏离中心波长λ_j之间的欧氏距离，以及所述相邻的位置点对应的中心波长与无偏离中心波长λ_j之间的欧氏距离；

根据上述距离计算结果计算所述位置点s对应的中心波长λ_m，s的反距离权重值，以及所述相邻的位置点对应的中心波长的反距离权重值；

根据上述反距离权重值计算结果计算所述第m列对应所述无偏离中心波长λ_j的光谱辐射能量值。

2.根据权利要求1所述的色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法，其特征在于，确定与所述位置点s相邻的位置点为：确定与所述位置点s相邻前位置点s-1以及后位置点s+1；

此时，得到所述前位置点s-1对应的中心波长λ_m，s-1以及所述后位置点s+1对应的中心波长λ_m，s+1；

计算中心波长λ_m，s-1与无偏离中心波长λ_j之间的欧氏距离Δ_s-1，中心波长λ_m，s与无偏离中心波长λ_j之间的欧氏距离Δ_s，以及中心波长λ_m，s+1与无偏离中心波长λ_j之间的欧氏距离Δ_s+1，其中，Δ_s-1＝|λ_m，s-1-λ_f|；Δ_s＝|λ_m，s-λ_f|；Δ_s+1＝|λ_m，s+1-λ_f|；

计算中心波长λ_m，s-1的反距离权重值Q_s-1，中心波长λ_m，s的反距离权重值Q_s，以及中心波长λ_m，s+1的反距离权重值Q_s+1，其中，Qs-1=1/Δs-11/Δs-1+1/Δs+1/Δs+1;]]>Qs=1/Δs1/Δs-1+1/Δs+1/Δs+1;]]>Qs+1=1/Δs+11/Δs-1+1/Δs+1/Δs+1;]]>

计算所述第m列对应所述无偏离中心波长λ_j的光谱辐射能量值φ′_m，f(λ_f)＝φ_m，s-1(λ_m，s-1)·Q_s-1+φ_m，s(λ_m，s)·Q_s+φ_m，s+1(λ_m，s+1)·Q_s+1。