[发明专利]一种三星3.5寸硬盘平推式数据检测设备以及检测方法

权利要求书

1.一种三星3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：包括硬盘安装支架（1）和TTL主芯片电路板（5），所述硬盘安装支架（1）包括与三星3.5寸硬盘适配的进入口（11）和设置于其两侧用于供三星硬盘推至后侧底部的平推式导槽（12），所述硬盘安装支架（1）包括设置于后侧的接线面板（17），所述接线面板（17）上设置有与三星硬盘COM口位置相对应的COM连接口（2），所述COM连接口（2）上设置有分别与三星硬盘COM口内8根插针相对应的上下两排插口，每排插口设置有4个插口（21），所述TTL主芯片电路板（5）包括TTL主芯片（51）和用于连接PC控制器（6）的USB端口（52），所述COM连接口（2）内4根插口（21）的输出端与TTL主芯片（51）连接；三星3.5寸硬盘能从进入口（11）进入，沿平推式导槽（12）向安装支架（1）后侧运动，压向接线面板（17），使硬盘上的COM口与COM连接口（2）自动连接，PC控制器（6）通过TTL主芯片（51）与硬盘进行串口通讯，所述PC控制器（6）设置有用于三星3.5寸硬盘的数据检测系统，所述数据检测系统包括虚拟COM口设置单元和波特率设置单元。

2.根据权利要求1所述的一种三星3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述TTL主芯片电路板（5）包括TTL主芯片（51）和用于连接PC控制器（6）的USB端口（52），所述COM连接口（2）内8根插口（21）的输出端与TTL主芯片（51）连接；所述TTL主芯片（51）包括RXD端口和TXD端口，COM连接口（2）上排左边开始第一根插口（21）为与三星硬盘RXD端连接的RXD插口（22），下排左边开始第一根插口（21）为与三星硬盘TXD端连接的TXD插口（23），所述TTL主芯片（51）的RXD端口、TXD端口分别通过RXD插口（22）、TXD插口（23）连接三星硬盘的RXD端、TXD端，通过RXD、TXD端实现三星硬盘的底层通信。

3.根据权利要求1所述的一种三星3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述TTL主芯片（51）通过USB端口（52）连接至PC控制器（6）或直接焊接在PC控制器（6）的通信端口上。

4.根据权利要求1所述的一种三星3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述接线面板（17）上还设有与三星硬盘ATA端口、电源端口位置相对应ATA插口（3）和电源插口（4），所述COM连接口（2）、ATA插口（3）和电源插口（4）位于同一水平线上，接线面板（17）上从左到右依次的排布为COM连接口（2）、ATA插口（3）、电源插口（4）。

5.根据权利要求1一种三星3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述硬盘进入口（11）上设置有朝外侧方向打开的活动门（13），所述硬盘的后侧底部上还设置有推杆（14），所述推杆（14）通过连杆（15）与活动门（13）连接，当活动门（13）打开时，推动连杆（15）向硬盘安装支架（1）后侧方向运动，同时联动使推杆（14）向硬盘进入口（11）方向推动，将硬盘推出硬盘进入口（11）。

6.根据权利要求1所述的一种三星3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述硬盘安装支架（1）的上侧还设有在放入硬盘时能对硬盘产生向下夹持作用的弹性夹（16）。

7.根据权利要求1所述的一种三星3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述硬盘进入口（11）的长为103mm，宽为30mm。

8.一种三星3.5寸硬盘的数据检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤a：接收三星硬盘，将三星硬盘正面朝上推入平推式导槽（12）中；

步骤b：使三星硬盘后方的COM口与接线面板（17）上的COM连接口（2）连接；

步骤c：设置虚拟COM口和波特率，虚拟COM口为COM3至COM15，波特率设置为38400Bps；

步骤d：对三星硬盘进行串口通讯测试，通讯测试通过后进入下一步骤；

步骤e：对三星硬盘进行硬盘参数检测，包括查看硬盘信息、查看A表和G表、进行S.M.A.R.T.检测，若检测后发现参数正常，进入下一个步骤；

步骤f：对三星硬盘进行盘片检测，检测通过后进入下一步骤；

步骤g：对三星硬盘进行扇区数据测试，测试通过表示数据可以恢复，否则表示数据已经丢失。