[发明专利]一种阵列基板及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体地说，涉及一种用于检测显示面板方法和显示面板。

背景技术

在传统的显示面板线路设计中，通常会在显示区域的外侧设计有环绕面板的称为短路杆(Shorting Bar)的外围走线，并将扫描线按照奇数(ODD)和偶数(EVEN)分别引出至外围走线，即整个面板上的奇数和偶数扫描线在显示区域的外围各自短接在一起。这种设计是为了在TFT制程的检测环节中，可以通过给奇数和偶数扫描线不同的电讯号来检查显示面板内是否存在短路或断路的情况，配合不同的数据信号还可以检查出其他类型的不良。短路杆(Shorting Bar)在检测后被断开或去除，不会影响到成品的正常显示。

为了改善垂直取向液晶显示器在大视角出现的色偏现象，会采用充电共享(Charge Sharing)的像素设计方案。图1为现有技术中具有短路杆的充电共享阵列基板的线路结构示意图。采用第N+2行充电扫描线(Charge Gate Line)信号来控制第N行电荷共享扫描线(Share Gate Line)的开启和关闭。如果第N行的充电扫描线和电荷共享扫描线之间发生短路，由于第N行的共享扫描线与后面第N+2行的充电扫描线相连，使得二者在顺序上皆为奇数或偶数，那么通过上述奇偶行分别引出短路杆的检测方式并无法在TFT制程段检出上述短路缺陷。只能依靠成盒(Cell)点灯甚至成品检测的方式方能检出，导致产品出现水平扫描线不良，良率降低。

现有技术中还提供一种在短路杆区域设置三条检测线路的阵列基板，如图2所示。检测线路G1、G2和G3依次连接至显示区域中的连续三行充电扫描线，并向三条检测线路依次提供检测信号。这种方案能够检测同一行中充电扫描线和电荷共享扫描线之间的短路缺陷，但检测方式更加复杂、耗时更长。特别是产品批量生产量后，由于各项制程已逐步稳定，上述短路缺陷出现的几率极低，继续采用该方案就会导致检测效率低下，影响产能。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有技术中TFT制程阶段检测方式单一，并不能根据产品生产各个时期的良率状况切换检测方式，检测效率较低的缺陷。

为了解决上述技术问题，本申请的实施例提供一种阵列基板，包括：

显示区，其包括若干行子区域，每行子区域设置充电线和共享线，每行子区域的的共享线连接至行号增加值为偶数的子区域的充电线；

检测区，其包括第一至第六检测线路，所述第一至第六检测线路一一对应地连接至显示区中的连续六行子区域的充电线；

其中，在第一检测状态下，将第一至第六检测线路分成三组，依次向所述三组检测线路提供第一检测信号，以检测每行子区域中充电线和共享线的线路缺陷；

在第二检测状态下，将第一至第六检测线路分成两组，依次向所述两组检测线路提供第二检测信号，以检测相邻行子区域中充电线和共享线的线路缺陷。

在一个实施例中，在第一检测状态下，所述三组检测线路分别为第一和第四检测线路、第二和第五检测线路、第三和第六检测线路。

在一个实施例中，在第二检测状态下，所述两组检测线路分别为第一、第三和第五检测线路，以及第二、第四和第六检测线路。

在一个实施例中，所述第一检测信号有效时，通过充电线接收到第一检测信号的子区域的行号差值为3的倍数。

在一个实施例中，所述偶数为2或者4。

本申请的实施例还提供一种用于检测阵列基板的方法，所述阵列基板包括显示区和检测区，所述显示区包括若干行子区域，每行子区域设置充电线和共享线，每行子区域的的共享线连接至行号增加值为偶数的子区域的充电线；

所述检测区包括第一至第六检测线路，所述第一至第六检测线路一一对应地连接至显示区中的连续六行子区域的充电线；

所述方法包括以下步骤：

在第一检测状态下，将所述第一至第六检测线路分成三组，依次向所述三组检测线路提供第一检测信号，以检测每行子区域中充电线和共享线的线路缺陷；

在第二检测状态下，将所述第一至第六检测线路分成两组，依次向所述两组检测线路提供第二检测信号，以检测相邻行子区域中充电线和共享线的线路缺陷。

在一个实施例中，在第一检测状态下，所述三组检测线路分别为第一和第四检测线路、第二和第五检测线路、第三和第六检测线路。

在一个实施例中，在第二检测状态下，所述两组检测线路分别为第一、第三和第五检测线路，以及第二、第四和第六检测线路。