[发明专利]一种西数3.5寸硬盘平推式数据检测设备以及检测方法

权利要求书

1.一种西数3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：包括硬盘安装支架（1）和TTL主芯片电路板（5），所述硬盘安装支架（1）包括3.5寸硬盘进入口（11）和设置于其两侧用于供西数硬盘推至后侧底部的平推式导槽（12），所述硬盘安装支架（1）包括设置于后侧的接线面板（17），所述接线面板（17）上设置有与西数硬盘COM口位置相对应的COM连接口（2），所述COM连接口（2）上设置有分别与西数硬盘COM口内8根插针相对应的上下两排插口，每排插口设置有4个插口（21），所述TTL主芯片电路板（5）包括TTL主芯片（51）和用于连接PC控制器（6）的USB端口（52），所述COM连接口（2）内8根插口（21）的输出端与TTL主芯片（51）连接；西数3.5寸硬盘能从进入口（11）进入，沿平推式导槽（12）向安装支架（1）后侧运动，压向接线面板（17），使硬盘上的COM口与COM连接口（2）自动连接，PC控制器（6）通过TTL主芯片（51）与硬盘进行串口通讯，所述PC控制器（6）设置有用于西数3.5寸硬盘的数据检测系统，所述数据检测系统包括虚拟COM口设置单元和波特率设置单元。

2.根据权利要求1所述的一种西数3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述TTL主芯片（51）包括RXD端口、TXD端口和GND端口，COM连接口（2）上排左边开始第二、第三根插口（21）分别为与西数硬盘TXD端和RXD端连接的TXD插口（23）和RXD插口（22），下排左边开始第三根插口（21）为与西数硬盘GND端连接的GND插口（24），所述TTL主芯片（51）的RXD端口、TXD端口和GND端口分别通过RXD插口（22）、TXD插口（23）和GND插口（24）连接西数硬盘的RXD端、TXD端和GND端，通过RXD、TXD、GND端实现西数硬盘的底层通信。

3.根据权利要求1所述的一种西数3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述TTL主芯片（51）通过USB端口（52）连接至PC控制器（6）或直接焊接在PC控制器（6）的通信端口上。

4.根据权利要求1所述的一种西数3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述接线面板（17）上还设有与西数硬盘ATA端口、电源端口位置相对应ATA插口（3）和电源插口（4），所述COM连接口（2）、ATA插口（3）和电源插口（4）位于同一水平线上，接线面板（17）上从左到右依次的排布为COM连接口（2）、ATA插口（3）、电源插口（4）。

5.根据权利要求1一种西数3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述硬盘进入口（11）上设置有朝外侧方向打开的活动门（13），所述硬盘的后侧底部上还设置有推杆（14），所述推杆（14）通过连杆（15）与活动门（13）连接，当活动门（13）打开时，推动连杆（15）向硬盘安装支架（1）后侧方向运动，同时联动使推杆（14）向硬盘进入口（11）方向推动，将硬盘推出硬盘进入口（11）。

6.根据权利要求1所述的一种西数3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述硬盘安装支架（1）的上侧还设有在放入硬盘时能对硬盘产生向下夹持作用的弹性夹（16）。

7.根据权利要求1所述的一种西数3.5寸硬盘平推式数据检测设备，其特征在于：所述硬盘进入口（11）的长为103mm，宽为30mm。

8.一种西数3.5寸硬盘的数据检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤a：接收西数硬盘，将西数硬盘正面朝上推入平推式导槽（12）中；

步骤b：使西数硬盘后方的COM口与接线面板（17）上的COM连接口（2）连接；

步骤c：设置虚拟COM口和波特率，虚拟COM口为COM3至COM15，波特率设置为57600Bps；

步骤d：对西数硬盘进行串口通讯测试，通讯测试通过后进入下一步骤；

步骤e：对西数硬盘进行硬盘参数检测，包括查看硬盘家族和微码信息检测、查看G表、进行S.M.A.R.T.检测，若检测后发现参数正常，进入下一个步骤；

步骤f：对西数硬盘进行盘片检测，检测通过后进入下一步骤；

步骤g：对西数硬盘进行扇区数据测试，测试通过表示数据可以恢复，否则表示数据已经丢失。

9.根据权利要求8所述的一种西数3.5寸硬盘的数据检测方法，其特征在于：步骤c中，所述COM口设置为COM3。

10.根据权利要求8所述的一种西数3.5寸硬盘的数据检测方法，其特征在于：步骤f中，所述盘片检测具体方法是检测目标存储设备的每个扇区进行读写测试时的时间反馈值：

所有逻辑块地址LBA值的时间反馈值均小于50毫秒，表示盘面品质正常；

部分逻辑块地址LBA值的时间反馈值在50毫秒以上，表示存在危险磁道或者损坏磁道，盘片检测不通过。