[发明专利]一种希捷3.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及硬盘检测设备及检测方法，尤其是一种希捷3.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法。

背景技术

每年产生的巨量的电子垃圾中，有近七成的希捷硬盘是可以进行回收并循环再生利用的，可是由于很多希捷硬盘不通电、电机不转动、磁头撞击、无法就绪、大量坏道、无法读写等故障，特别是新款的希捷硬盘（特指希捷11、12代、DM002、DM003等最新的希捷型号）有一种常见的故障，通电后无法就绪，一直停留在刚启动电脑的CMOS硬件检测状态或者是LBA=0故障，一般情况下，用户根本无法通过正常的ATA信道口进行操作，都会做废品处理了，然而这是可以进行维修的，只是目前还没有一种很好的工具能对废弃的希捷硬盘进行可靠性检测、再生修复，现有的修复过程复杂，再生成本高，进而限制了希捷硬盘的回收利用率。由于无法通过ATA信道口读取希捷硬盘的数据，因此没有维修基础，但是如果能从硬盘的COM端口中实现希捷硬盘的底层通信，获取硬盘的信息进而检测出故障所在，则有可能进行维修。

发明内容

为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种希捷3.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法，能十分方便地实现硬盘COM的连接，快速准确地检测出硬盘的故障问题，提高维修效率。

本发明解决其问题所采用的技术方案是：

一种希捷3.5寸硬盘故障检测设备，包括硬盘安装支架和TTL主芯片电路板，所述硬盘安装支架包括硬盘进入口和设置于其两侧用于供希捷硬盘推至后侧底部的平推式导槽，所述硬盘安装支架包括设置于后侧的接线面板，所述接线面板上设置有与希捷硬盘COM端口位置相对应的COM连接口，所述COM连接口上设置有分别与希捷硬盘COM口内4根插针对应连接的4个插口，所述TTL主芯片电路板包括TTL主芯片和用于连接PC控制器的USB端口，所述COM连接口内4根插口的输出端与TTL主芯片连接，所述PC控制器通过COM连接口与希捷3.5寸硬盘连接进行串口通讯。

具体地，所述TTL主芯片包括GND端口、TXD端口和RXD端口，COM连接口左边开始第二、三、四根插口分别为与希捷硬盘GND端、TXD端和RXD端连接的GND插口、TXD插口和RXD插口，所述TTL主芯片的GND端口、TXD端口和RXD端口分别通过GND插口、TXD插口和RXD插口连接希捷硬盘的GND端、TXD端和RXD端,通过GND端、TXD端和RXD端实现希捷硬盘的底层通信。

进一步，所述TTL主芯片通过USB端口连接至PC控制器或直接焊接在PC控制器的通信端口上。

进一步，所述接线面板上还设有与希捷硬盘ATA端口、电源端口位置相对应ATA插口和电源插口，所述COM连接口、ATA插口和电源插口位于同一水平线上，接线面板上从左到右依次的排布为COM连接口、ATA插口、电源插口。

进一步，所述硬盘进入口上设置有朝外侧方向打开的活动门，所述硬盘安装支架的后侧底部上还设置有推杆，所述推杆通过连杆与活动门连接，当活动门打开时，推动连杆向硬盘安装支架后侧方向运动，同时联动使推杆向硬盘进入口方向推动，将硬盘推出硬盘进入口，所述硬盘进入口的长为103mm，宽为30mm。

进一步，所述硬盘安装支架的上侧还设有在放入硬盘时能对硬盘产生向下夹持作用的弹性夹。

一种基于上述希捷硬盘的故障检测设备的故障检测方法，包括以下步骤：

步骤A，接收希捷硬盘，将希捷硬盘正面朝上推入平推式导槽中；

步骤B，连接希捷硬盘后方的COM端口与接线面板上的COM连接口；

步骤C，设置选择COM端口和串口通讯波特率；

步骤D， PC控制器通过TTL主芯片的RXD端口和TXD端口与希捷硬盘进行串口通讯测试；

步骤E,若通过串口通讯测试，则进入步骤F，若串口通讯测试失败，则更换串口通讯波特率或更换硬盘电路板，重新进行串口通讯测试；

步骤F，串口通讯正常，检查硬盘的各项运行参数是否正常；

步骤G，若硬盘的各项运行参数检查全部通过，则进入步骤H，若其中某一项参数运行不通过，则判断电路固件或磁头存在故障，需要更换；

步骤H，进入盘片检测，全部磁道读取延时都小于50ms，则硬盘检测通过；若存在磁道读取延时大于50ms,则判断存在损坏磁道或危险磁道故障，硬盘测试不通过。

具体的，步骤C中COM端口的选择范围为COM3至COM15，串口通讯波特率的范围为9600Bps至192000Bps。