[发明专利]一种用于薄膜电容外观缺陷检测的图像处理方法

说明书

技术领域

本发明属于图像处理领域，具体涉及一种用于薄膜电容外观缺陷检测的图像处理方法。

背景技术

随着工业信息化不断地发展，电容作为电子设备中大量使用的电子元件之一，需求也不断提升。生产商在制造薄膜电容过程中，电容表面大量出现凹凸不平、毛刺、留白、边缘突起等现象。然而，我国目前的无损检测、监测技术和检测仪器无法满足电容表面缺陷检测中的精度、实时和自动化等特殊要求。在实际工业生产过程中，由于技术条件的限制，电容表面检测基本停留在人工目测的水平上，作为生产工艺中的重要一环，其检测过程是单调重复、枯燥乏味的。不仅工人劳动强度大，而且生产效率低。人工检测方法由于受限与人眼视觉灵敏度、个体主观判断等因素的影响，通常无法准确可靠地捕获缺陷信息，这样将很容易产生大量的漏检和误检。检测者由于检查缺陷项目多，长时间地进行重复作业容易产生视觉疲劳而导致错误率上升，导致检测结果的可靠性也会降低。因此研究出一种适用薄膜电容外观缺陷检测图像处理方法，将其应用在生产流水线上，从而实现自动化检测，可以进一步提高产品质量，降低生产成本，具有重要的工程实际意义。

发明内容

本发明的目的就是为了克服人工检测的诸多不足，从而提高电容生产效率，提出一种用于薄膜电容外观缺陷检测的图像处理方法，可快速检测出各种缺陷。本发明的薄膜电容外观缺陷检测方法主要由目标前景提取、形状检测和梯度检测组成。

用f(x,y)代表采集到的大小为M×N的电容图像，用f₁(x,y)、f₂(x,y)、f₃(x,y)分别表示f(x,y)的R、G、B通道图像；具体步骤：

步骤(1)：根据前景电容和背景在R、G、B通道上的差异，将未超过阈值的点赋值成黑点，从而分割出目标前景。具体计算公式如下：

f(x,y)=0iff1(x,y)<T1orf2(x,y)<T2orf3(x,y)<T3f(x,y)elae]]>

其中T₁，T₂，T₃分别为R、G、B通道的颜色阈值。

步骤(2)：将f₁(x,y)同一行上的值相加，得到各行的和向量G(x)，然后进行如下操作：

①将i从0开始递增到M，若出现G(i)大于阈值η,则标记此时的i为目标电容的上边界x₀，跳至下一步骤；反之i继续递增，继续判断G(i)。

②将i从x₀开始递增到M，若出现G(i)小于阈值η，则标记此时的i为目标电容的下边界x₁；反之i继续递增，继续判断G(i)。

步骤(3)：将f₁(x,y)的同一列的值相加得到各列的和向量G(y)，然后进行如下操作：