[发明专利]一种存储IO性能的测试方法

权利要求书

1.一种存储IO性能的测试方法，其特征是具体步骤为：

①配置存储，搭建存储服务环境：创建RAID组，建立资源池，划LUN；创建iscsi主机组，建立iscsi主机，建立iscsi主机时，iscsi主机名从压力机端获得；配置存储iscsi网络；将LUN映射给主机组；

②配置压力机环境，搭建压力机测试环境：安装操作系统，配置压力机数量；更改主机名；配置压力机IP；修改/etc/hosts配置文件，将压力机IP，主机名加入/etc/hosts文件中；关闭防火墙，selinux；配置无密码登陆；配置iscsi服务，在压力机端，启动ISCSI服务，查询ISCSI设备target的iqn号码，登陆到ISCSI存储设备；编辑multipath多路径软件的etc/multipath.conf配置文件；

③各个压力机上分别安装测试软件vdbench，根据测试内容设置vdbench参数；

④运行vdbench，输出测试结果。

2.根据权利要求1所述的一种存储IO性能的测试方法，其特征是所述的步骤②中配置压力机IP包括配置压力机连接iscsi口的IP，与存储iscsi口相通和配置压力机互联通信口IP。

3.根据权利要求1或2所述的一种存储IO性能的测试方法，其特征是所述的步骤②中配置无密码登陆是配置ssh通信无密码登陆或者配置rsh通信无密码登陆。

4.根据权利要求3所述的一种存储IO性能的测试方法，其特征是所述的步骤②中编辑multipath多路径软件的etc/multipath.conf配置文件，保存etc/multipath.conf备用，然后新建一个multipath.conf 文件，编辑新的配置文件：

保留以下参数：其余参数注释掉：

defaults {

user_friendly_names yes

udev_dir /dev

path_grouping_policy multibus

failback immediate

no_path_retry fail

}

，保存退出。

5.根据权利要求4所述的一种存储IO性能的测试方法，其特征是所述的步骤③中vdbench参数包括hd：指定压力机，sd：指定测试LUN，wd：压力模型。