[发明专利]显示屏及其裂纹检测方法

说明书

本发明提供了一种显示屏及其裂纹检测方法，在GIP信号线与基板的边缘之间设置检测信号线，检测信号线的一端与所述GIP信号线相连接，另一端与所述端子部相连接，通过端子部分别向所述GIP信号线与所述检测信号线提供信号，由此判断是否有裂纹破坏检测信号线，并且只需在cell test治具上增加与所述检测信号线相连的探针以及信号线即可进行检测，将裂纹检测与cell test工序同时进行，节省了检测的时间和成本。

技术领域

本发明涉及平板显示领域，具体涉及一种显示屏及其裂纹检测方法。

背景技术

随着消费品屏幕的薄化趋势要求，OLED(有机发光显示器)或者LCD(液晶显示器)的基板玻璃也趋于薄化，而薄化后的玻璃强度会随之减弱，切割后玻璃边缘更加容易出现裂纹。虽然现在有磨边工艺可以在一定程度上去除边缘的小裂纹，但是对于较深的裂纹依然无法去除。磨边之后的工艺流程也会增大没有去除的裂纹，同时因为玻璃厚度的减薄，磨边之后的工艺流程也容易增加新的裂纹。

这些裂纹如果已经破坏了显示屏(panel)周边的信号线，panel将显示不良。作为工作人员无法迅速判断是否是因裂纹导致的不良，因而增加了不良解析的难度。如果裂纹还没有破坏信号线，在组成模组之前的工艺甚至到客户端使用过程中，裂纹都有可能进一步增大，从而造成显示不良；同时目前消费品屏幕的边框要求越来越窄，窄边框需要磨边工艺的磨入深度越来越少，这样就无法及时除去裂纹。因此亟需一种测量裂纹的方法，一方面可以检测和分析不良或者防止“潜在”不良品流向客户，另一方面可以确定最佳的研磨深度，在保证良率的同时达到最窄的边框。

为了检测裂纹，目前已有的做法是在panel周边某位置设置金属走线1，并在panel某一边设置两个衬垫2与3，金属走线1的两端分别连接至衬垫2与衬垫3，如图1所示，测量衬垫2与衬垫3之间的电阻。若有裂纹经过金属走线1导致金属走线1断裂，测试衬垫2与衬垫3之间的电阻是无穷大，如此能够检测出裂纹。但是该方法需要单独进行裂纹检测，无法和成盒检查(cell test)工序同时进行，或者需要对cell test治具做较大的改动，从而增加了模组的制造时间和成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示屏及其裂纹检测方法，只需对cell test治具做微小调整，就可以与cell test工序同时进行检测，节省了裂纹检测的时间与成本。

为实现上述目的，本发明提供一种显示屏，包括基板及设置在所述基板上的GIP信号线和端子部，还包括用于检测所述显示屏裂纹的检测信号线，所述检测信号线设置在所述基板上，位于所述GIP信号线与所述基板的边缘之间，所述检测信号线的一端与所述GIP信号线相连接，另一端与所述端子部相连接。

可选的，所述GIP信号线连接设置在所述基板上的GIP单元与所述端子部，所述GIP单元设置在与所述端子部相邻的所述基板的两个侧边上。

可选的，在所述两个侧边上各设置有一根GIP信号线与一根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线分别在所述两个侧边远离所述端子部的地方相连接。

可选的，在所述两个侧边上各设置有一根GIP信号线与一根检测信号线，且所述GIP信号线与所述检测信号线延伸至与所述端子部相对的一边，在与所述端子部相对的一边相连接。

可选的，在所述两个侧边上各设置有两根GIP信号线与两根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线分别在所述两个侧边远离所述端子部的地方相连接。

可选的，在所述两个侧边上各设置有两根GIP信号线与两根检测信号线，所述GIP信号线与所述检测信号线延伸至与所述端子部相对的一边，在与所述端子部相对的一边相连接。

相应的，本发明还提供一种显示屏的裂纹检测方法，采用上述的显示屏，所述方法包括以下步骤：