[发明专利]存储设备寿命预测、确定方法及装置

权利要求书

1.一种存储设备寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取存储设备的累计失效数据块数量，以及，与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数；

判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值；

当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时，利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型；

利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述存储设备的累计失效数据块数量，以及，与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数，包括：

监测所述存储设备中所有数据块的擦写循环；

若所述存储设备中任意一个数据块完成一次擦写循环，将所述累计擦写次数增加1；

检测所述存储设备中的数据块是否出现不可恢复错误UNC；

当检测到所述存储设备中任意一个数据块出现UNC时，且将所述累计失效数据块数量增加1；

将当前累计擦写次数确定为与当前累计失效数据块数量对应的累计擦写次数。

3.一种存储设备寿命确定方法，其特征在于，包括：

获取存储设备的累计失效数据块数量，以及，与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数；

在所述累计失效数据块数量每次增加时，将所述存储设备中预留的冗余块中的一个冗余块替换失效的数据块，所述存储设备中设置有预设数量的冗余块；

判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值；

当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时，利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型；

利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值

判断所述存储设备的累计擦写次数与所述擦写次数阈值的比值是否大于预设比值；

当所述累计擦写次数与所述擦写次数阈值的比值大于预设比值时，确定所述存储设备预失效。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设比值为0.6～0.95。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当确定所述存储设备预失效后，生成预失效提示并进行提示。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当确定所述存储设备预失效后，判断所述存储设备的累计擦写次数与所述擦写次数阈值的比值是否等于1；

若所述累计擦写次数与所述擦写次数阈值的比值等于1，确定所述存储设备失效。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当确定所述存储设备失效后，生成失效提示并进行提示。

8.一种存储设备寿命预测装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取存储设备的累计失效数据块数量，以及，与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数；

失效数据块判断模块，用于判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值；

预测模型确定模块，用于当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时，利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型；

预测模块，用于利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述获取模块，包括：

检测子模块，用于检测所述存储设备中所有数据块的擦写循环；

第一累计子模块，用于当所述存储设备中任意一个数据块完成一次擦写循环时，将所述累计擦写次数增加1；

UNC检测子模块，用于检测所述存储设备中的数据块是否出现不可恢复错误UNC；

第二累计子模块，用于当检测到UNC时，将所述累计失效数据块数量增加1；

对应确定子模块，用于将当前累计擦写次数确定为与当前累计失效数据块数量对应的累计擦写次数。