[发明专利]半导体结构在审

专利信息
申请号: 201410670770.7 申请日: 2014-11-20
公开(公告)号: CN105321941A 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 傅志新;张裕东 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人: 张金芝;杨颖
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 结构
【权利要求书】:

1.一种半导体结构,其特征在于,包含:

第一备用单元区域,包含多个备用单元;

第一导电线,耦合于第一参考电压和所述多个备用单元,设置为用于提供所述第一参考电压到所述第一备用单元区域的所述多个备用单元;以及

第二导电线,耦合到所述多个备用单元,设置为用于提供第二参考电压到所述第一备用单元区域的所述多个单元。

2.如权利要求1所述的半导体结构,其特征在于,所述多个备用单元的每个备用单元执行预定功能,且设置为用于工程改变顺序过程。

3.如权利要求1所述的半导体结构,其特征在于,所述第二导电线选择性地耦合到所述第二参考电压。

4.如权利要求1所述的半导体结构,其特征在于,还包含:

第三导电线,耦合于第三电压和所述多个备用单元之间,设置为用于提供第三参考电压到所述多个备用单元。

5.如权利要求4所述的半导体结构,其特征在于,所述第二导电线位于所述第一导电线与所述第三导电线之间,且所述第一备用单元区域位于所述第一导电线和所述第三导电线之间。

6.如权利要求5所述的半导体结构,其特征在于,还包含:

正常单元区域,包含执行预定功能的多个正常单元;以及

第二备用单元区域,包含多个备用单元;

其中所述正常单元区域的每个正常单元耦合到所述第一参考电压和所述第二参考电压,且所述第二备用单元区域的所述多个备用单元耦合到所述第一参考电压并选择性地耦合到所述第二参考电压。

7.如权利要求6所述的半导体结构,其特征在于,所述第二备用单元区域的每个备用单元执行预定功能,且设置为用于工程改变顺序过程。

8.如权利要求7所述的半导体结构,其特征在于,所述正常单元区域位于所述第一备用单元区域和所述第二备用单元区域之间。

9.如权利要求8所述的半导体结构,其特征在于,所述正常单元区域的每个正常单元还耦合到所述第三参考电压。

10.如权利要求8所述的半导体结构,其特征在于,所述第二备用单元区域的每个备用单元还耦合到所述第三参考电压。

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