[发明专利]DSP运行方法及用于DSP运行的装置在审
申请号: | 201410677043.3 | 申请日: | 2014-11-21 |
公开(公告)号: | CN105653479A | 公开(公告)日: | 2016-06-08 |
发明(设计)人: | 刘宪阳;师林;王鹏程;刘春明;李伯臣 | 申请(专利权)人: | 航天恒星科技有限公司 |
主分类号: | G06F13/20 | 分类号: | G06F13/20 |
代理公司: | 北京智为时代知识产权代理事务所(普通合伙) 11498 | 代理人: | 王加岭;杨静 |
地址: | 100086*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | dsp 运行 方法 用于 装置 | ||
技术领域
本发明涉及DSP领域,涉及一种DSP运行方法及用于DSP运行的装置,特 别涉及在空间状态下使用的DSP运行方法及用于DSP运行的装置。
背景技术
当前,以高性能DSP为核心的信息处理系统广泛应用于空间飞行器电子系 统中,用于实现对空间飞行器的控制管理和数据处理。由于DSP内部存储器资 源有限,为实现大数据量信息处理,需扩展其外部程序存储器及数据存储器, 构成DSP最小系统。
空间飞行器在空间运行时,容易受高能带电粒子的影响,包括总剂量效应 (TID)和单粒子效应(单粒子翻转SEU+单粒子锁定SEL),引起其信息处理系 统功能异常或故障;同时随着存储器件的集成度不断增加、工艺尺寸越来越 小、供电电压不断降低,电路节点的临界电荷大大降低,更易受到SEU的影 响,使得存储器件中数据发生改变,导致功能失效。
空间电子系统抗辐射防护最常用的方法是进行屏蔽防护设计,采用铝或 钽,对辐射敏感器件进行辐射屏蔽,此方法可有效消除TID效应对电子器件的 影响;对于SEL效应,可通过外加电流监测处理电路进行防护。上述成熟方案 可直接应用于DSP最小系统中。对于SEU效应,尤其是DSP外围存储器的抗SEU 设计,目前多采用存储程序三模冗余的方式进行。由于DSP多采用二级boot方 案,系统上电后首先由DSP硬核自主完成引导程序的加载,此后用户可在引导 程序中加入对用户程序的三取二判决,完成对用户程序的三模冗余加载。此方 案无法做到对引导程序的三模冗余,同时对程序在运行过程中的发生的单粒子 翻转无法解决。
发明内容
有鉴于此,为克服上述至少一个缺点,并提供下述至少一种优点。本发明 一方面公开了一种DSP运行方法及用于DSP运行的装置,采用本发明可在单粒 子翻转效应明显的区域,在不增加整体系统复杂度的情况下,提高了DSP运行 的可靠性。
为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:
本发明一方面公开了一种DSP运行方法,包括以下步骤:
DSP输出存储器访问信号;
FPGA模块根据所述访问信号产生针对多个存储器的片选信号;
FPGA模块根据所述片选信号读取所述多个存储器中的数据;
FPGA对所述数据判决,并将通过判决的所述数据输出至所述DSP的总线。
进一步的,所述FPGA模块根据所述访问信号产生针对存储器的片选信号, 包括:
FPGA检测到所述述访问信号时,判断所述DSP的读使能状态;
根据所述DSP的读使能状态,产生针对所述存储器的片选信号。
进一步的,所述片选信号为多个,所述片选信号中的每一个用于选取存储 器中的一个数据。
进一步的,所述FPGA对所述数据判决,包括:互相比较所述多个存储器中 的数据的每一个;将数量最多的相同数据作为判决数据输出。
进一步的,若所述互相比较错误,则记录所述片选信号的对应的存储地 址;根据所述存储地址刷新存储器。
本发明另一方面公开了一种用于DSP运行的装置,包括:
DSP,运行加载的数据,并在运行所述加载的数据前,产生存储器访问信 号;
FPGA模块,根据所述访问信号产生针对多个存储器的片选信号;根据所述 片选信号读取所述多个存储器中的数据;对所述数据判决并将通过判决的所述 数据输出至所述DSP的总线。
进一步的,所述FPGA检测到所述述访问信号时,判断所述DSP的读使能状 态;
根据所述DSP的读使能状态,产生针对所述存储器的片选信号。
进一步的,所述FPGA根据多个片选信号,所述多个片选信号中的每一个用 于选取存储器中的一个数据。
进一步的,所述FPGA互相比较所述多个存储器中的数据的每一个;将数量 最多的相同数据作为判决数据输出。
进一步的,所述FPGA若判断所述互相比较错误,则记录所述片选信号的对 应的存储地址;根据所述存储地址刷新存储器。
通过采用上述技术方案,本发明的所达到的有益效果为:
在DSP程序加载时,通过连接于存储器和DSP之间的FPGA对存储器进行访 问,降低了DSP直接访问的存储器的出错概率,效提高DSP程序加载的可靠 性。
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