[发明专利]点灯测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示领域，尤其涉及一种点灯测试方法及装置。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)功耗很低，并且具有高画质、体积小、重量轻的特点，因此倍受大家青睐，成为显示器的主流。

液晶显示器，为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，其制作过程可大致分为三部分：薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备过程以及彩色滤光板制备工程、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备过程、液晶显示模块(Liquid Crystal Module，LCM)制备过程。液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶盒进行测试(Cell Test)，以确认液晶盒是否存在缺陷。Cell Test简称ET，为液晶面板未贴附驱动芯片以及输入显示信号用的柔性电路板之前进行。该测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。

如图1所示，目前工厂在大批量生产时，为了节省成本，多采用短路条10(Shorting Bar)的点灯测试方式。参照图1所示，每个像素单元中的R、G、B像素分别通过短路条10上的R接口、G接口、B接口接收相应的R、G、B信号，测试用的驱动芯片(IC)21通过一个开关模块(SW)22来给R接口、G接口、B接口输入信号，以R接口为例，当开关模块22打开时，短路条10上的R接口会给产品提供所有的R信号。点灯测试后，后续工序会给液晶面板贴附上驱动芯片，当通过贴附的驱动芯片来给信号时，开关模块22如果异常打开(开关模块22只在点灯测试中使用，之后产品正常显示情况下开关模块22应保持关闭状态)，则会导致相关信号通过短路条10时导致短路；同样如果开关模块22出现其他异常例如短路，则会导致短路条10信号无法给入到产品内部电路，导致相关不良，而这些开关模块22导致的不良会被误判为液晶面板不良。

另外，该点灯检测中每个像素单元中的R像素均通过短路条10上的R接口接收信号，不能发挥驱动芯片针对每个R象素进行控制的优势(G、B像素也存在类似问题)，这样便使得信号给入的选择上以及点灯画面得到了限制。

发明内容

本发明的实施例提供一种点灯测试方法及装置，解决现有点灯测试方法无法选择输入信号，使得信号给入的选择上以及点灯画面受到限制的问题，可以发挥驱动芯片针对每个象素进行控制的优势，优化ET的点灯检测程序，优化ET检出。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一种点灯测试方法，包括：将测试用的驱动芯片集成在转接板上；然后通过柔性电路板，将所述驱动芯片的信号输出端与待测试产品的显示信号输入端口进行对应连接；进行点灯测试。

可选地，所述通过柔性电路板，将所述驱动芯片的信号输出端与待测试产品的显示信号输入端口进行对应连接，包括：将所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。

优选地，所述将所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口，具体包括：在待测试产品的显示信号输入端口附近形成对位标记，在所述柔性电路板上形成与所述对位标记相对位的准对位标记，或者，只在所述柔性电路板上形成准对位标记，所述准对位标记与所述待测试产品的显示信号输入端口已有的对位标记相对位；

将所述对位标记与所述准对位标记进行对位后，再进行压接，使所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。

可选地，所述对位标记、所述准对位标记为十字形。

进一步地，所述柔性电路板上与待测试产品的所述显示信号输入端口相压接的地方设置有凸点。

本发明还提供一种点灯测试装置，包括：集成有测试用的驱动芯片的转接板，所述驱动芯片用于产生测试用的驱动信号；柔性电路板，用于将所述测试用的驱动信号输入待测试产品的显示信号输入端口，所述柔性电路板一端与所述驱动芯片的信号输出端相连，另一端与待测试产品的显示信号输入端口相连。

可选地，所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。

优选地，所述柔性电路板上形成有准对位标记，所述准对位标记与待测试产品的显示信号输入端口附近的对位标记相对位。

可选地，所述对位标记、所述准对位标记为十字形。