[发明专利]一种MCU中I/O接口故障的检测方法在审
| 申请号： | 201410678467.1 | 申请日： | 2014-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN104407954A | 公开（公告）日： | 2015-03-11 |
| 发明（设计）人： | 宋志超;陈志杰 | 申请（专利权）人： | 深圳市振邦智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 刘显扬;黄晓笛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 mcu 接口 故障 检测 方法 | ||
1.一种MCU中I/O接口故障的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：
A、将被检测的MCU接口经过一个电容接地；
B、将MCU所对应的I/O接口设为输出端口并且输出高电平；
C、延时预设时间后将该I/O接口切换为输入模式；
D、判断检测该I/O接口输入的是否为高电平；如是高电平，则执行步骤E，如不是高电平，则该I/O接口故障并对该I/O接口进行故障处理；
E、将该I/O接口设置为输出接口并且输出低电平；
F、延时预设时间后将该I/O接口切换为输入模式；
G、判断检测该I/O接口输入的是否为低电平；如是低电平，则检测下一个I/O接口，如不是低电平，则该I/O接口故障并对该I/O接口进行故障处理。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤C包括以下步骤：
C1、延时预设时间为与MCU接口连接的电容进行充电；
C2、对电容充满电后将该I/O接口切换为输入模式。
3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述步骤E包括以下步骤：
E1、在延时预设时间内为连接的电容进行放电；
E2、电容放电后将该I/O接口切换为输入模式。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，在检测过程中利用连接电容的充放电功能使得I/O接口故障检测更精确。
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，在故障检测过程中运用I/O接口的输出到输入的短时间的切换输出的高电平或低电平检测接口的故障。
6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，在检测中延时时间的单位为秒。
7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，在检测中的延时时间为1-2秒。
8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，在检测中的延时时间为1秒。
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