[发明专利]高MIR 线性聚乙烯和采用这样的聚乙烯制备的复合薄膜

权利要求书

1.一种线性低密度聚乙烯，其具有根据ASTM D4703/D1505测量0.91到0.94g/cm³的密度、从0.05到1g/10min的I_2.16(MI)以及超过35的I_21.6/I_2.16(MIR)，MI和MIR按照ASTM 1238 D在190℃下测量，至少15MPa的厚度为25μm如此处定义的参比薄膜的根据ASTM D882-02在100％伸长下MD张力与MD 10％偏置屈服应力的差值。

2.根据权利要求1的聚乙烯，其中厚度为25μm如此处定义的参比薄膜的根据ASTM D882-02在100％伸长下MD张力与MD 10％偏置屈服应力的差值为至少18MPa。

3.根据权利要求1或者权利要求2的聚乙烯，其中I_21.6/I_2.16(MIR)为从40到70以及如此处所述的Mw/Mn为从2.5到4。

4.前述任一项权利要求的聚乙烯，其中MD 10％偏置屈服应力为至少14MPa。

5.前述任一项权利要求的聚乙烯，其中密度(ρ)以及MI符合不等式ρ>0.04MI+0.91。

6.前述任一项权利要求的聚乙烯，其中MI为从0.1到0.35g/10min；密度为从0.92到0.935g/cm³；Mw/Mn为从3到4。

7.前述任一项权利要求的聚乙烯，其中通过TREF测定的如此处所述的T₇₅-T₂₅为从2到8℃。

8.前述任一项权利要求的聚乙烯，其中聚乙烯包含衍生自1-己烯和/或1-辛烯的短支链。

9.共挤出薄膜，其具有：

a)芯层，该芯层包含至少10wt％的根据前述权利要求1到9任一项的线性低密度聚乙烯和没有HPPE或有小于30，优选小于15wt％的HPPE，所述wt％基于芯层中的全部聚合物wt％计算；和

b)在芯层的至少一面上的一个或多个表层，该表层包含基于在表层中聚合物总重至少85wt％的线性聚乙烯，和没有HPPE或有基于表层中聚合物总重小于15wt％的HPPE，在该线性聚乙烯中基于在表层中线性聚乙烯总重至少75wt％的为MI是2.5g/10min或更少以及MIR为小于35的LLDPE。

10.根据权利要求9的薄膜，其中在表层中具有小于35的MIR的线性聚乙烯具有小于7MPa的厚度为25μm如此处定义的参比薄膜根据ASTM在100％伸长下MD张力与MD 10％偏置屈服应力的差值。