[发明专利]红外焦平面阵列动态盲元处理方法及装置在审

专利信息
申请号: 201410681305.3 申请日: 2014-11-24
公开(公告)号: CN104330167A 公开(公告)日: 2015-02-04
发明(设计)人: 陈刚;姜江辉;钟庆;叶丽婷 申请(专利权)人: 浙江大立科技股份有限公司
主分类号: G01J5/02 分类号: G01J5/02
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 孙佳胤
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 红外 平面 阵列 动态 处理 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及盲元检测技术领域,尤其涉及一种红外成像系统中的动态盲元处理方法及装置。

背景技术

在红外成像系统中,红外焦平面阵列由于制造技术、工艺和材料的原因,存在一定的非均匀性,有时甚至是完全失效的单元,这些失效单元称为盲元。以红外焦平面阵列对黑体辐射的响应程度作为量化标准,盲元包括死像元和过热像元。国标中定义:死像元为像元响应率小于1/10平均响应率的像元;过热像元为像元噪声电压大于平均噪声电压10倍的像元。盲元的存在减低了图像质量,对红外图像有较大的影响,因此在红外成像系统中必须加以纠正。

对盲元的处理包括两个方面:盲元的检测以及盲元的补偿。通过盲元检测,确定盲元所处的具体位置;而后,通过盲元补偿算法对盲元进行补偿。现有的盲元检测有采用噪声法:对于焦平面成像过程中的噪声,采用统计方法——多帧累加取平均值的方法进行处理;如果某个像元是盲元,其平均值一般与其他的像元存在很大的差别,可以利用这一点来检测焦平面的盲元。现有的采用噪声法进行盲元检测的前提条件是:检测时所获取的图像为平面均匀场,且盲元检测是以非均匀校正为基础的。

采用上述方法只可以检测出图像中的明显盲元,对于部分视觉可见的盲元,上述方法无法将其检测出来,也就无法对盲元进行有效的校正。

因此,需要提供一种动态盲元处理方法,可以检测出视觉可见的盲元,并在图像处理过程中实现实时快速的盲元处理,改善红外图像的成像质量。

发明内容

本发明的目的在于,针对现有技术中盲元的检测无法检测出部分视觉可见的盲元、无法对盲元进行实时、有效的校正的接收问题,提供一种红外焦平面阵列动态盲元处理方法及装置,可以检测出视觉可见的盲元,并在图像处理过程中实现实时快速的盲元处理,改善红外图像的成像质量。

为实现上述目的,本发明提供了一种红外焦平面阵列动态盲元处理方法,包括,(1)根据红外仪器在其工作范围内的两点校正系数对红外图像进行两点校正,获得校正后的输出图像;(2)逐一判断所述输出图像中每一像元的值与该像元相应周围邻域数据的均值的差值是否大于预设阈值,获取包括所有盲元及其对应位置的阈值判断结果,其中,差值大于预设阈值的为盲元;(3)根据所述阈值判断结果生成盲元位置表;(4)红外仪器每次输出图像时,根据所述盲元位置表通过自适应滤波的方式对输出图像中的盲元进行实时校正。

为实现上述目的,本发明还提供了一种红外焦平面阵列动态盲元处理装置,包括,两点校正模块、阈值判断结果获取模块、盲元位置表生成模块以及盲元校正模块;所述两点校正模块,用于根据红外仪器在其工作范围内的两点校正系数对红外图像进行两点校正,获得校正后的输出图像;所述阈值判断结果获取模块与所述两点校正模块相连,用于逐一判断所述输出图像中每一像元的值与该像元相应周围邻域数据的均值的差值是否大于预设阈值,获取包括所有盲元及其对应位置的阈值判断结果,其中,差值大于预设阈值的为盲元;所述盲元位置表生成模块与所述阈值判断结果获取模块相连,用于根据所述阈值判断结果生成盲元位置表;所述盲元校正模块与所述盲元位置表生成模块相连,用于在红外仪器每次输出图像时,根据所述盲元位置表通过自适应滤波的方式对输出图像中的盲元进行实时校正。

与现有技术相比,本发明的优点在于:通过本发明提供的红外焦平面阵列动态盲元处理方法可以实现实时快速的盲元处理,并可以通过调节用于盲元判断时的预设阈值将视觉可见的盲元都检测出来。且根据所述盲元位置表通过自适应滤波的方式对输出图像中的盲元进行实时校正,提高了红外图像的成像质量。

附图说明

图1,本发明所述的红外焦平面阵列动态盲元处理方法一实施方式的流程示意图;

图2,本发明所述阈值判断过程一实施例的流程示意图;

图3,本发明所述的红外焦平面阵列动态盲元处理装置一实施方式的流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明提供的红外焦平面阵列动态盲元处理方法及装置做详细说明。

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