[发明专利]红外焦平面阵列校正方法有效
申请号: | 201410682450.3 | 申请日: | 2014-11-24 |
公开(公告)号: | CN104406697A | 公开(公告)日: | 2015-03-11 |
发明(设计)人: | 陈刚;夏衍;韩建贸;蒋骏飞 | 申请(专利权)人: | 浙江大立科技股份有限公司 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;H04N5/33 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 孙佳胤 |
地址: | 310053 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 平面 阵列 校正 方法 | ||
1.一种红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,包括,
(1)根据不同环境温度下均匀图像的标准灰度值和温感值对探测器进行分区,获取每个区对应的参数并保存,其中所述区参数至少包括温感值、标准灰度值以及积分时间;
(2)计算自动调零过程中所采集均匀图像的平均灰度值,判断所述平均灰度值与当前所使用的区参数中的标准灰度值之间的差值是否大于预设灰度值阈值,若是,则进行积分时间调整,并记录积分时间调整量以及调整次数;
(3)判断累积积分时间调整量是否大于预设积分时间阈值,若是则执行步骤(4),否则返回执行步骤(2);
(4)匹配当前环境温度下均匀图像的当前平均灰度值和当前温感值与步骤(1)中每个区中所保存的标准灰度值和温感值,匹配出最接近的区,调取所述最接近的区中保存的参数作为探测器当前使用的参数。
2.根据权利要求1所述的红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,步骤(1)进一步包括:
(11)根据探测器响应分别获取不同环境温度下均匀图像的平均灰度值作为探测器的相应标准灰度值,并对应获取探测器在不同环境温度下的温感值;
(12)按照标准灰度值和温感值对探测器进行分区,每个区对应相应的积分时间;
(13)调节硬件参数,保证每一区内探测器的响应均在其线性范围;
(14)保存温感值、标准灰度值、积分时间、相应的硬件参数作为区参数。
3.根据权利要求2所述的红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,步骤(11)之前进一步包括:
(10)对不同的环境温度,调节探测器的积分时间和相应的硬件参数保证探测器输出稳定图像后,对输出图像进行两点校正获得不同温度下的均匀图像。
4.根据权利要求1所述的红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,步骤(2)中:所述积分时间调整量与计算所得平均灰度值和相应标准灰度值之间的差值的绝对值成正比,若所述差值大于0则减少积分时间,若所述差值小于0则增加积分时间。
5.根据权利要求4所述的红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,步骤(2)中进一步包括:采用下式进行拟合平滑滤波获取实际的积分调整量:
Δt=k1Δt1+k2Δt2+k3Δt3,
其中,Δt为实际的积分时间调整量,Δt3为根据当前帧数据计算所得积分调整量,Δt1和Δt2为与当前帧相邻的前两帧数据计算所得积分调整量;k1、k2、k3为平滑系数,三者满足:k1+k2+k3=1且0≤k1<k2<k3<1。
6.根据权利要求5所述的红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,若所述实际的积分调整量大于等于2μs,则进行积分时间的调整。
7.根据权利要求1所述的红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,步骤(4)中匹配出最接近的区进一步包括:
(41)将当前平均灰度值和当前温感值之和分别与步骤(1)中每个区中所保存的标准灰度值和温感值之和进行比较,获取第一差值绝对值最小时所对应的区作为所述最接近的区。
8.根据权利要求7所述的红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,若步骤(41)中第一差值绝对值最小时所对应的区包括至少2个区,则进一步执行:
(42)将当前温感值分别与第一差值绝对值最小时所对应的多个区中所保存的温感值进行比较,获取第二差值绝对值最小时所对应的区作为所述最接近的区。
9.根据权利要求8所述的红外焦平面阵列校正方法,其特征在于,若步骤(42)中第二差值绝对值最小时所对应的区包括至少2个区,则进一步执行:
(43)获取第二差值绝对值最小时所对应的多个区中温感值对应温度最低的区作为所述最接近的区。
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