[发明专利]一种试验室两径模型多路径衰落试验设备以及试验方法

权利要求书

1. 一种试验室两径模型多路径衰落试验设备，其特征在于：该试验设备包括发射机、功分器、多个天线转动仪、多个发射天线、多个可变衰减器、接收天线、接收机和控制及监测系统，所述发射机与功分器连接，所述功分器分出两路，一路连接天线转动仪Ⅰ，另一路连接可变衰减器Ⅰ，所述天线转动仪Ⅰ与发射天线Ⅰ连接，所述可变衰减器Ⅰ与天线转动仪Ⅱ连接，所述天线转动仪Ⅱ与发射天线Ⅱ连接，所述发射天线Ⅰ和发射天线Ⅱ发射的信号由接收天线接收，所述接收天线与天线转动仪Ⅲ连接，所述天线转动仪Ⅲ与可变衰减器Ⅱ连接，所述可变衰减器Ⅱ与接收机连接，所述控制及监测系统分别与发射机和接收机连接。

2.根据权利要求1所述一种应用试验室两径模型多路径衰落试验设备进行试验的方法，其特征在于，试验过程如下：

1）、标定接收机经LOS路径的最小可接收信号强度p0；

2）、发射机通过LOS发射天线和NLOS发射天线的功率发射信号，由于接收天线接收到的二径信号经矢量叠加后，会导致接收信号衰落，衰落幅度与二径信号的相位有关；

3）、用天线转动仪改变NLOS发射天线的位置，找出使接收信号衰落最大的位置，使接收机受扰最严重；

4）、增加LOS路径的发射信号功率，使接收机能正常接收；

重复3）和4），直到3）中接收机不受扰，记录接收机LOS最小可接收信号强度测试值为p1，即在最恶劣二径干扰条件下，接收机灵敏度下降p1- p0；

5) 、调节可变衰减器减小NLOS路径的发射功率，重复3）、4）和5），查看接收机工作情况：减小NLOS路径的信号功率，多径衰落的影响会减小。