[发明专利]验证芯片设计的方法

说明书

技术领域

本发明涉及芯片设计技术领域，更具体地讲，涉及一种验证芯片设计的方法。

背景技术

验证芯片设计就是验证所设计的逻辑代码是否符合预期的要求(例如，是否能实现预期的功能等)，是否符合原来定义好的规范。随着芯片设计的复杂度不断提高和规模不断增大，验证芯片设计所需的时间越来越长，已经占整个开发周期的70％，甚至更多。

目前，验证芯片设计的方法大多基于以累计功能覆盖率驱动的随机验证流程。图1示出现有的验证芯片设计的方法的流程图。如图1所示，在步骤S101，根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码。在步骤S102，基于测试代码随机测试功能覆盖项，以获得每次随机测试结束时的累计功能覆盖率。累计功能覆盖率简单地说是一个比例数据，指累计的已测试完的功能覆盖项占全部功能覆盖项的百分比。验证工作的目标就是尽量使累计功能覆盖率达到预设值。因此，在步骤S103，判断累计功能覆盖率是否达到预设值。在累计功能覆盖率达到预设值的情况下，验证工作完成；在累计功能覆盖率没有达到预设值的情况下，返回执行步骤S102，继续进行随机测试。通过现有的验证方式进行芯片设计的验证所需时间较长。

发明内容

本发明的示例性实施例在于提供一种验证芯片设计的方法，其能够有效地预测芯片设计的验证的完成时间并据此更新功能覆盖项、测试代码，以保证尽快、顺利地完成芯片设计的验证工作。

根据本发明提供一种验证芯片设计的方法，包括：(A)根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码；(B)基于测试代码随机测试功能覆盖项，以获得每次随机测试结束时的累计功能覆盖率；(C)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间；(D)根据累计功能覆盖率的收敛时间更新功能覆盖项和/或测试代码，然后基于更新的功能覆盖项和/或测试代码返回执行步骤(B)，其中，所述累计功能覆盖率是累计的已测试完的功能覆盖项占全部功能覆盖项的百分比。

可选地，步骤(C)包括：每隔预定随机测试次数或每隔预定时间，在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间。

可选地，步骤(C)包括：(c1)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率，确定时间和累计功能覆盖率之间的拟合曲线；(c2)确定所述拟合曲线的收敛时间，其中，所述拟合曲线第一次达到预定值的累计功能覆盖率时对应的时间为拟合曲线的收敛时间。

可选地，在步骤(D)中，在累计功能覆盖率的收敛时间超过目标完成时间的情况下，更新功能覆盖项和/或测试代码。

可选地，在步骤(D)中，在累计功能覆盖率的收敛时间超过目标完成时间的情况下，根据累计功能覆盖率的收敛时间与目标完成时间之间的时间差更新功能覆盖项和/或测试代码。

可选地，所述方法还包括：(E)在累计功能覆盖率的收敛时间没有超过目标完成时间的情况下，返回步骤(B)。

根据本发明示例性实施例的验证芯片设计的方法，可以有效地预测芯片设计的验证的完成时间并据此更新功能覆盖项、测试代码，以保证尽快、顺利地完成芯片设计的验证工作。

将在接下来的描述中部分阐述本发明总体构思另外的方面和/或优点，还有一部分通过描述将是清楚的，或者可以经过本发明总体构思的实施而得知。

附图说明

通过下面结合示例性地示出实施例的附图进行的描述，本发明示例性实施例的上述和其他目的和特点将会变得更加清楚，其中：

图1示出现有的验证芯片设计的方法的流程图；

图2示出根据本发明示例性实施例的验证芯片设计的方法的流程图。

具体实施方式

现将详细参照本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中，相同的标号始终指的是相同的部件。以下将通过参照附图来说明所述实施例，以便解释本发明。

图2示出根据本发明示例性实施例的验证芯片设计的方法的流程图。

如图2所示，在步骤S201，根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码。具体说来，根据需要验证的芯片设计预期要实现的功能确定各功能覆盖项以及测试代码，各功能覆盖项分别对应于该芯片设计需要实现的各个具体功能。为了测试到各个功能覆盖项，需要确定测试代码，以基于测试代码来测试各功能覆盖项。